П781 Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская Академия наук, Институт общей физики ; Ред. А. В. Раков. - М. : Наука, 1995. - 165 с. - (Труды ИОФАН ; т.49). - (в пер.) : Б. ц. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа 
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.) Свободны: аунл (1) |