Б 874 Брандон, Дэвид. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов: пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. С. Л. Баженов, доп. к гл. 3 О. В. Егорова. - М. : Техносфера, 2004. - 377[7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-02. Цифровая обработка сигналов). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 290.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа 
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (6 экз.), счз1 (2 экз.) Свободны: аунл (6), счз1 (2) |