Шифр: И735453/2013/2
   Журнал

Электроника : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.), Московский государственный институт электронной техники. - М. : МИЭТ, 1996 - . - ISSN 1561-5405. - Выходит раз в два месяца
2013г. N 2 . - 831.15, р.
Содержание:
Козюхин, Сергей Александрович. Фазовое разделение в халькогенидных полупроводниках системы Ge-Te при термоциклировании / С. А. Козюхин, А. А. Шерченков, А. В. Бабич. - С.3-8
Кл.слова: термообработка, эвтектика, теллур
Кореновский, Николай Леонидович. Композитный материал на основе пористого титана для селективного поглощения водорода из газовых смесей / Н. Л. Кореновский, В. С. Петров, А. А. Полунина. - С.9-16
Кл.слова: геттеры, пленки, палладий
Кислицин, Максим Валерьевич. Исследование процесса формирования пленки оксида кремния из раствора тетраэтоксисилана золь-гель методом / М. В. Кислицин, М. А. Королев, А. Ю. Красюков. - С.17-22
Кл.слова: окисление, осаждение, пористость
Стенин, Владимир Яковлевич. Моделирование переходных характеристик суб-100-нм КМОП двухфазных инверторов при локальном воздействии ядерной частицы / В. Я. Стенин. - С.23-32
Кл.слова: конверторы, помехи, импульсы
Егоркин, Владимир Ильич. Формирование кластеров никеля для роста углеродных нанотрубок / В. И. Егоркин, А. А. Зайцев, В. К. Неволин. - С.33-35
Кл.слова: наноимпринт-литография, травление, пиролиз
Бобринецкий, Иван Иванович. Атомно-силовая микроскопия биологических наночастиц в воздухе / И. И. Бобринецкий, Р. А. Морозов, В. В. Трошин. - С.36-41
Кл.слова: адсорбат, подложки, топография
Громов, Дмитрий Геннадьевич. Особенности структуры и свойств углеродных наностолбиков, сформированных низкотемпературным осаждением из газовой фазы / Д. Г. Громов, Н. И. Боргардт, Р. Л. Волков. - С.42-48
Кл.слова: гетероструктуры, графен, пироуглерод
Белов, Алексей Николаевич. Влияние активности фторсодержащих электролитов на достижене максимальной толщины пористого анодного оксида титана / А. Н. Белов, И. М. Гаврилин, С. А. Гаврилов. - С.49-53
Кл.слова: окисление, нанотрубки, пленки
Старков, Алексей Викторович. Метод оценки искажений топологии для детальной трассировки нанометровых СБИС / А. В. Старков. - С.54-58
Кл.слова: коррекция, фоторезист, отклонения
Гаврилов, Виталий Сергеевич. Метод моделирования асимметричного доступа к памяти при решении задач синхронизации многопроцессорных систем / В. С. Гаврилов, Г. Г. Казеннов. - С.59-65
Кл.слова: процессоры, регистры, отладка
Пименов, Александр Викторович. Имитационная модель синхронизации средств связи с псевдослучайной перестройкой рабочей частоты / А. В. Пименов. - С.66-70
Кл.слова: маркеры, вероятность, оптимизация
Барабан, Александр Петрович. Диагностика γ-облученных Si-SiO2 методом катодолюминесценции / А. П. Барабан, В. А. Дмитриев, Ю. В. Петров. - С.71-76
Кл.слова: люминесценция, спектры, регистрация
Усанов, Дмитрий Александрович. Измерение подвижности и концентрации носителей заряда в арсенид-галлиевом диоде Ганна с помощью ближнеполевого СВЧ-микроскопа / Д. А. Усанов, С. С. Горбатов, В. Ю. Кваско. - С.77-83
Кл.слова: микроскопия, резонаторы, измерения
Печерская, Екатерина Анатольевна. Контроль временной нестабильности диэлектрических параметров сегнетоэлектриков / Е. А. Печерская, В. А. Соловьев, А. М. Метальников. - С.84-88
Кл.слова: поляризация, переключения, усталость
Малашевич, Наталья Иосифовна. Реализация ячейки ОЗУ в составе КМОП БМК / Н. И. Малашевич. - С.89-90
Кл.слова: схемы, кристаллы, ячейки
Лавренов, Владимир Александрович. Влияние термических факторов на точностные характеристики датчика астроориентации / В. А. Лавренов, П. Н. Разживалов. - С.91-92
Кл.слова: точность, погрешности, температура
Терещенко, Сергей Андреевич. Определение фактора анизотропии рассеивающей среды с помощью метода Монте-Карло / С. А. Терещенко, С. А. Титенок. - С.93-95
Кл.слова: излучения, рассеяние, поглощение
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)