Д 138 Давыдов, Валерий Николаевич. Измерение ширины запрещенной зоны полупроводника методом температурного сканирования [Электронный ресурс] : учебное - методическое пособие к лабораторной работе по дисциплине «Электроника и наноэлектроника» / В. Н. Давыдов ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск). - Электрон. текстовые дан. - Томск : [б. и.], 2013. - on-line, 10 с. - Б. ц. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа  Перейти к внешнему ресурсу http://edu.tusur.ru/training/publications/3567 |