Сальников, Андрей Сергеевич. Обзор тестовых структур для измерения электрофизических параметров материалов при изготовлении СВЧ монолитных интегральных схем [Текст] : доклад / А. С. Сальников, А. Ю Ющенко // Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники : периодический научный журнал. - 2010. - N 2(22)Ч.1. - С. 145-148. - Библиогр. в конце ст. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа  Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : 2010_salnikov_1_250311.pdf или скачать Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : сбо (2) Свободны: сбо (2) |