Пономарев, Сергей Васильевич.
    Анализ влияния технологического процесса изготовления многослойных интегральных схем на основе керамики с низкой температурой обжига на результаты моделирования напряженно-деформированного состояния модулей для бортовой радиоэлектронной аппаратуры. Обзор [Текст] : доклад / С. В. Пономарев, С. Б. Сунцов // Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники : периодический научный журнал. - 2010. - N 2(22)Ч.1. - С. 207-209. - Библиогр. в конце ст.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Полный текст/внешний ресурс   (постраничный просмотр) : 2010_ponomarev_250311.pdf или скачать 

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : сбо (2)
Свободны: сбо (2)