> Шифр: И643213/2019/11 Журнал 2019г. N 11 . - 1218.59, р. Новиков, Д. А. Государственный первичный специальный эталон единицы длины в области измерений параметров отклонений от плоскостности оптических поверхностей ГЭТ 183-2019 / Д. А. Новиков, Е. А. Милованова, Н. В. Иванникова. - С.3-6 Кл.слова: характеристики метрологические, интерферометрия, метод фазовых шагов Левин, С. Ф. Дефинициальная неопределённость и погрешность неадекватности / С. Ф. Левин. - С.7-17 Кл.слова: достоверность, вероятность доверительная, погрешность неадекватности Лапко, А. В. Зависимости между параметрами гистограммы и ядерной оценки плотности вероятности многомерной случайной величины / А. В. Лапко, В. А. Лапко. - С.18-23 Кл.слова: свойства асимптотические, исследование, анализ Мастеренко, Д. А. Применение морфологической фильтрации в задаче диагностики состояния поверхности режущего инструмента / Д. А. Мастеренко, Э. С. Скопцов. - С.24-30 Кл.слова: износ, метод измерений бесконтактный, огибающая профиля Привалов, В. Е. Оценка погрешности лидарных измерений концентрации при зондировании в атмосфере смеси молекул сероводорода и метана / В. Е. Привалов, В. Г. Шеманин. - С.31-35 Кл.слова: уравнение лидарное, рассеяние света комбинационное, счёт фотонов Балаев, Р. И. Метрологическое обеспечение сетей связи поколения 5G / Р. И. Балаев, И. Ю. Блинов, А. Н. Малимон. - С.36-42 Кл.слова: синхронизация тактовая сетевая, синхронизация временная, сети связи Меренков, А. В. Экспресс-анализ зависимости критической температуры плёнки сверхпроводящего материала от её толщины / А. В. Меренков, В. И. Чичков, С. В. Шитов. - С.43-48 Кл.слова: переход сверхпроводящий, измерение, гафний Батурина, Н. Ю. Построение двумерных регресионных моделей вольт-амперных характеристик выходного тока полевых транзисторов с помощью информационной системы PLExp / Н. Ю. Батурина, И. В. Калиенко. - С.49-55 Кл.слова: планирование, эксперимент, дисперсия Еняков, А. М. Экспериментальная оценка источников нопределённости измерений полной мощности ультразвукового пучка в воде методом плоского сканирования поперечного сечения пучка / А. М. Еняков, С. И. Кузнецов, Г. С. Лукин. - С.56-61 Кл.слова: гидрофон, поле дальнее, сканирование Тюрин, Д. Н. Метод спектрально-эллипсометрической оценки фазового состава многослойных плёнок и металл-оксидных структур в процессе их роста / Д. Н. Тюрин, В. А. Котенев, А. Ю. Цивадзе. - С.62-67 Кл.слова: окисление металлов, пассивация, микроскопия Карачевцев, Ф. Н. Определение содержания Zr, Y, Gd в мишенях для магнетронного распыления теплозащитных покрытий на основе циркония / Ф. Н. Карачевцев, Р. М. Дворецков, Е. А. Михеева. - С.68-71 Кл.слова: пробоподготовка микроволновая, спектрометрия атомно-эмиссионная, плазма индуктивно связанная Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1) Свободны: сбо (1) |