Поисковый запрос: (<.>K=режим<.>) |
Общее количество найденных документов : 22
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Методы определения шумовых характеристик : Общие требования. - М. : ИПК Изд-во стандартов
, 2002. - 10 с (
1 экз. )
|
2.
| Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие : Термины и определения. - М. : Изд-во стандартов
, 1986. - 9 с (
1 экз. )
|
3.
| Обработка электрохимическая : Термины и определения. - М. : Изд-во стандартов
, 1982. - 7 с (
1 экз. )
|
4.
| Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей : стандарт. - М. : Изд-во стандартов
, 1990. - 14 с (
1 экз. )
|
5.
| Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей : стандарт. - М. : Изд-во стандартов
, 1990. - 8 с (
1 экз. )
|
6.
| Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей : стандарт. - М. : Изд-во стандартов
, 1990. - 10 с (
1 экз. )
|
7.
| Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей : стандарт. - М. : Изд-во стандартов
, 1986. - 15 с (
1 экз. )
|
8.
| Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей : стандарт. - М. : Изд-во стандартов
, 1986. - 19 с (
1 экз. )
|
9.
| Средства измерений электрических и магнитных величин : Общие технические условия. - М. : ИПК Изд-во стандартов
, 1995. - 53 с (
1 экз. )
|
10.
| Системы радионавигационные дальномерные и разностно-дальномерные : Термины и определения. - М. : Изд-во стандартов
, 1976. - 15 с (
1 экз. )
|
11.
| Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие : Метод измерения временных параметров импульса излучения. - М. : Изд-во стандартов
. - М. : ИПК Изд-во стандартов
, 19802000. - 7 с (
1 экз. )
|
12.
| Диоды полупроводниковые. Излучатели : Методы измерения параметров. Общие положения. - М. : Изд-во стандартов
, 1975. - 5 с (
1 экз. )
|
13.
| Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные : Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей. - М. : Изд-во стандартов
, 1986. - 8 с (
1 экз. )
|
14.
| Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные : Метод измерения критической частоты. - М. : Изд-во стандартов
, 1979. - 5 с (
1 экз. )
|
15.
| Диоды полупроводниковые : Метод измерения пробивного напряжения. - М. : Изд-во стандартов
, 1983. - 4 с (
1 экз. )
|
16.
| Транзисторы биполярные : Метод измерения коэффициента шума на высоких и сверхвысоких частотах. - М. : Изд-во стандартов
, 1988. - 16 с (
1 экз. )
|
17.
| Лазеры и излучатели инжекционные, диоды лазерные : Основные параметры. - М. : Изд-во стандартов
. - М. : ИПК Изд-во стандартов
, 19772000. - 7 с (
1 экз. )
|
18.
| Пайка и лужение : Основные термины и определения. - М. : Изд-во стандартов
, 1989. - 19 с (
1 экз. )
|
19.
| Системы обработки информации : Термины и определения. - М. : Изд-во стандартов
, 1991. - 14 с (
1 экз. )
|
20.
| Изделия электротехнические : Требования по надежности. - М. : Изд-во стандартов
, 1986. - 20 с (
1 экз. )
|
|
|
|
Основная база библиотеки
Стандартный