Диоды полупроводниковые [Текст] : Метод измерения пробивного напряжения = Semiconductor diodes : Measurement method of breakdown voltage / Государственный комитет СССР по стандартам (М.). - Офиц. изд. - Введ. с 01.07.84. - М. : Изд-во стандартов, 1983. - 4 с. - (Государственный стандарт Союза ССР) Ограничение срока действия снято Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа Есть полнотекстовые версии (для доступа требуется авторизация) Имеются экземпляры в отделах: сбо (1 экз.) Свободны: сбо (1) |