Поисковый запрос: (<.>K=ДИФРАКТОМЕТРИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 20
Показаны документы с 1 по 20 |
1.
| Илюшин, Александр Сергеевич. Дифракционный структурный анализ [] : учебное пособие в 2-х частях. - (Высшее образование). Часть 1
, 2022 on-line (
экз. )
|
2.
| Суворов, Эрнест Витальевич. Дифракционный структурный анализ [Электр.ресурс] : учебное пособие для вузов. - М. : Юрайт
, 2020 on-line (
экз. )
|
3.
|
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2019г. т.22 N 1 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
4.
|
Физика. - Журнал. Известия ВУЗов, 2019г. N 10 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
5.
|
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2017г. т.20 N 2 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
6.
| Вшивков, Сергей Анатольевич. Фазовые переходы полимерных систем во внешних полях : учебное пособие. - СПб. : Лань
, 2013. - 368 с. (
2 экз. )
|
7.
|
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2016г. т.19 N 1 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
8.
|
Электроника. - Журнал. Известия ВУЗов, 2016г. т.21 N 6 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
9.
|
Электроника. - Журнал. Известия ВУЗов, 2016г. т.21 N 5 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
10.
|
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2014г. N 2 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
11.
|
Физика. - Журнал. Известия ВУЗов, 2014г. N 11 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
12.
|
Измерительная техника. - Журнал, 2014г. N 11 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
13.
|
Радиоэлектроника. - Журнал. Известия ВУЗов, 2013г. т.56 N 10 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
14.
|
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2013г. N 3 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
15.
|
Приборостроение. - Журнал. Известия ВУЗов, 2013г. т.56 N 9 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
16.
| Орловская, Любовь Васильевна. Изучение дифракции лазерного излучения на двумерной структуре [Электр.ресурс] : учебно-методическое пособие
, 2010 on-line ; 14 с (
экз. )
|
17.
| Орловская, Любовь Васильевна. Применение дифракции Фраунгофера для определения диаметра мелких частиц [Электр.ресурс] : учебно-методическое пособие
, 2010 on-line ; 11 с (
экз. )
|
18.
|
Электроника. - Журнал. Известия ВУЗов, 2012г. N 4 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
19.
|
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2011г. N 2 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
20.
| Хейкер, Даниэль Моисеевич. Рентгеновская дифрактометрия. - М. : Физматгиз
, 1963. - 380 с (
2 экз. )
|
|
|
Основная база библиотеки
Стандартный