Авторизация
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Основная база библиотеки (2)
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=травление кремния<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
Шифр: Д118812/2016/4
   Журнал

Датчики и системы : ежемесячный научно-технический и производственный журнал/ Институт проблем управления РАН (М.), Московский государственный институт электроники и математики. - М. : СенСиДат, 1998 - . - ISSN 1992-7185. - Выходит ежемесячно
2016г. N 4 . - 1162.36, р.
Содержание:
Бочаров, Юрий Иванович. Комплект интегральных микросхем для сбора данных с матриц кремниевых фотоэлектронных умножителей / Ю. И. Бочаров, В. А. Бутузов, А. Б. Симаков. - С.4-9
Кл.слова: умножитель, микросхема, модуль
Симаков, Андрей Борисович. Аппаратно-программный комплекс для исследования индивидуального влияния СВЧ-излучения на кардиоритмику человека / А. Б. Симаков, Е. М. Онищенко, Б. В. Журавлев. - С.9-15
Кл.слова: поглощение, СВЧ-дозиметрия, коэффициент
Шунков, Валерий Евгеньевич. Интегральный многофазный преобразователь постоянного напряжения на переключаемых конденсаторах / В. Е. Шунков, О. Н. Кусь, В. Ю. Прокопьев. - С.15-20
Кл.слова: микросхема, преобразователь, конденсатор
Шагурин, Игорь Иванович. Высокопроизводительные криптоблоки для использования в составе "систем на кристалле" / И. И. Шагурин, Г. Ю. Жихарев. - С.21-25
Кл.слова: криптоалгоритм, криптоблок, хеш-функция
Веселов, Денис Сергеевич. Особенности применения жидкостного травления кремния в технологии изготовления МЭМС-структур / Д. С. Веселов, Ю. А. Воронов. - С.26-28
Кл.слова: травление кремния, щелочь, стабилизация
Веселов, Денис Сергеевич. Теплоизолирующие свойства диэлектрических мамбранных конструкций чувствительных элементов датчиков концентрации газов / Д. С. Веселов, Ю. А. Воронов. - С.29-32
Кл.слова: диэлектрика, мембрана, элемент
Самотаев, Николай Николаевич. Микромощные нагреватели для термокондуктометрических датчиков / Н. Н. Самотаев. - С.33-35
Кл.слова: элемент, лазер, установка
Самотаев, Николай Николаевич. Экономическая технология формирования металлических слоев на керамических пленках для газочувствительных датчиков / Н. Н. Самотаев, К. Ю. Облов, А. В. Иванова. - С.36-40
Кл.слова: МЭМС-технология, датчик, печать
Шалтаева, Юлия Ринатовна. Использование охранного воздушного потока в спектрометре ионной подвижности для повышения качества измерений / Ю. Р. Шалтаева, Н. В. Макарова, В. С. Першенков. - С.40-44
Кл.слова: спектрометрия, источник, моделирование
Липатов, Дмитрий Юрьевич. Сорбционные свойства материалов входного канала спектрометра ионной подвижности / Д. Ю. Липатов, А. А. Родионов, Ю. Р. Шалтаева. - С.45-50
Кл.слова: адсорбция, канал, моделирование
Шуренков, Владимир Васильевич. Действие СВЧ-излучения на характеристики полупроводниковых диодов / В. В. Шуренков. - С.50-53
Кл.слова: СВЧ-излучение, рекомбинация, p-n-переход
Барбашов, Вячеслав Михайлович. Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне / В. М. Барбашов, Б. И. Подлепецкий, Н. С. Трушкин. - С.54-57
Кл.слова: функция, автомат Брауэра, модель
Елушов, Илья Владимирович. Моделирование радиационной чувствительности биполярных ИМС с учетом изменчивости условий космического окружения / И. В. Елушов, Г. И. Зебрев, А. А. Лебедев. - С.58-60
Кл.слова: мощность, отжиг, активность
Орешков, Павел Николаевич. Прогнозирование вероятности отказа flash-памяти при низкоинтенсивном облучении / П. Н. Орешков, В. Д. Попов. - С.61-63
Кл.слова: излучение, режим, температура
Подлепецкий, Борис Иванович. Методика моделирования радиационной чувствительности МДП-транзисторных элементов датчиков / Б. И. Подлепецкий, А. С. Бакеренков, Ю. В. Сухоруслова. - С.64-69
Кл.слова: МДП-транзистор, излучение, эффект
Фелицын, Владислав Александрович. Исследование скорости радиационной деградации кремниевых и SiGe биполярных транзисторов / В. А. Фелицын, А. С. Бакеренков, А. С. Родин. - С.70-72
Кл.слова: состояние, заряд, стойкость
Родин, Александр Сергеевич. Схемотехнические методы повышения радиационной стойкости отражателей тока операционных усилителей / А. С. Родин, А. С. Бакеренков, В. А. Фелицын. - С.73-76
Кл.слова: стойкость, зеркало, моделирование
Лапшинский, Валерий Алексеевич. На пути к интеллектуальным микросхемам памяти / В. А. Лапшинский. - С.77-83
Кл.слова: память, энергонезависимость, нанохранилища
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
2.
621.382
П781


   
    Проблемы микроэлектронной технологии : сборник научных трудов / Российская Академия наук, Физико-технологический институт ; Ред. Л. В. Великов. - М. : Наука, 1994. - 78 с. : ил. - (Труды ФТИАН / Гл. ред. К. А. Валиев ; т. 7). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 5-02-007019-Х (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (3 экз.)
Свободны: аунл (3)
Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 26.08.2024
Число запросов 26680
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)