Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Поисковый запрос: (<.>I=И643213/2020/12<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Шифр: И643213/2020/12
   Журнал

Измерительная техника : научно-технический журнал/ Комитет стандартизации и метрологии Российской Федерации (М.), Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (М.), Российский научно-технический центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия (М.). - М., 1939 - . - ISSN 0368-1025. - Выходит ежемесячно
2020г. N 12 . - 1283.10, р.
Содержание:
Собина, Е. П. Государственный первичный эталон единиц удельной адсорбции газов, удельной поверхности, удельного объёма пор, размера пор, открытой пористости и коэффициента газопроницаемости твёрдых веществ и материалов ГЭТ 210-2019 / Е. П. Собина. - С.2-12
Кл.слова: свойства сорбционные, измерения, эталоны
Левин, С. Ф. Шкала космологических расстояний. Ч. 12. Конфлюэнтный анализ, ранговая инверсия и тесты на неадекватность / С. Ф. Левин. - С.13-21
Кл.слова: смещение красное, расстояние фотометрическое, модель Фридмана-Робертсона-Уокера
Грибов, А. Ю. Оптический стандарт частоты на холодных атомах стронция / А. Ю. Грибов, О. И. Бердасов, Г. С. Белотелов. - С.22-27
Кл.слова: измерения прецизионные, охлаждение лазерное, спектроскопия
Довыденко, О. В. Система метрологического обеспечения прослеживаемости измерений характеристик геометрии масс / О. В. Довыденко, А. И. Самойленко, В. В. Петроневич. - С.28-34
Кл.слова: эталоны, поверка, калибровка
Матвеев, Е. В. Измерение прочностных и микроструктурных характеристик эпоксиполимеров при отверждении термическим и сверхвысокочастотным методами / Е. В. Матвеев, А. В. Мамонтов, А. И. Гайдар. - С.35-41
Кл.слова: фрактография, микроскопия растровая электронная, спектроскопия оптическая
Крутиков, В. Н. Метрология денег / В. Н. Крутиков, В. В. Окрепилов. - С.42-50
Кл.слова: меры материальные, измерения, единица измерений
Шин, Д. Ж. Оценка эквивалентности шкал спектральной плотности энергетической яркости по результатам международных сличений между национальными метрологическими институтами Кореи, Китая и России / Д. Ж. Шин, Б. Б. Хлевной, Ц. Дай. - С.51-57
Кл.слова: лампы вольфрамовые ленточные, степень эквивалентности, тело высокотемпературное чёрное
Гуревич, В. Л. Результаты деятельности Евро-Азиатского сотрудничества государственных метрологических учреждений в формате видеоконференцсвязи в условиях пандемии / В. Л. Гуревич, Н. Д. Ляхова. - С.58-63
Кл.слова: метрология, онлайн-формат, веб-семинар
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 24.08.2024
Число запросов 10968
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)