Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Поисковый запрос: (<.>I=И643213/2020/8<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Шифр: И643213/2020/8
   Журнал

Измерительная техника : научно-технический журнал/ Комитет стандартизации и метрологии Российской Федерации (М.), Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (М.), Российский научно-технический центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия (М.). - М., 1939 - . - ISSN 0368-1025. - Выходит ежемесячно
2020г. N 8 . - 1283.10, р.
Содержание:
Вишняков, Г. Н. Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов ГЭТ 186-2017 / Г. Н. Вишняков, Г. Г. Левин, В. Л. Минаев. - С.3-7
Кл.слова: схема поверочная, талон, эллипсометр изображений
Оборин, А. В. Государственный первичный эталон единиц кермы в воздухе, мощности кермы в воздухе, экспозиционной дозы, мощности экспозиционной дозы и потока энергии рентгеновского и гамма-излучений ГЭТ 8-2019 / А. В. Оборин, А. Ю. Виллевальде, С. Г. Трофимчук. - С.8-12
Кл.слова: излучения ионизирующие, дозиметрия, камеры ионизационные
Чернышев, С. Л. Периодическая система элементов Д. И. Менделеева: между прошлым и будущим / С. Л. Чернышев, Л. К. Исаев, А. Д. Козлов. - С.13-19
Кл.слова: логика четырёхзначная, измерения квантовые, классификация
Марков, Б. Н. Алгоритмизация вычисления фрактальных параметров рельефа шероховатой поверхности по ГОСТ Р ИСО 25178-2-2014 / Б. Н. Марков, Д. А. Мастеренко, П. Н. Емельянов. - С.20-27
Кл.слова: инструмент режущий, диагностика, размерность фрактальная
Самойленко, А. А. Измерение эффективности детектирования однофотонных приёмников на основе спонтанного параметрического рассеяния и метода гетеродинирования / А. А. Самойленко, А. Д. Иванов, Г. Г. Левин. - С.28-35
Кл.слова: детекторы, калибровка, моделирование численное
Бычков, С. Б. Метод измерения параметров быстродействия фотоприёмников / С. Б. Бычков, И. В. Волков, А. И. Глазов. - С.36-42
Кл.слова: фотодиоды, характеристики импульсные, лазеры пикосекундные импульсные
Савкова, Е. Н. Колориметричесое исследование самосветящихся объектов в программно-аппаратных средах методом реализации многомерных шкал / Е. Н. Савкова. - С.43-50
Кл.слова: изображения цифровые, цветность, точность
Казьмин, А. И. Оценка точности реконструкции электрофизических и геометрических параметров многослойных диэлектрических покрытий многочастотным радиоволновым методом поверхностных медленных электромагнитных волн / А. И. Казьмин, П. А. Федюнин. - С.51-58
Кл.слова: модель имитационная, задача обратная, проницаемость диэлектрическая
Тенишев, В. П. Спектральные, дозиметрические и метрологические характеристики радиохромных радиационно-чувствительных композиций / В. П. Тенишев. - С.59-65
Кл.слова: доза поглощённая, излучение ионизирующее, плотность оптическая
Чирков, А. П. Оценка влияния метрологии на экономику: новая методология / А. П. Чирков. - С.66-72
Кл.слова: метрология, экономика, стоимость добавленная
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 24.08.2024
Число запросов 23166
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)