Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ЛИНЕЙНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах. - М. : Наука , 1995. - 165 с. ( 1 экз. )
2.
Пытьев, Юрий Петрович. Методы математического моделирования измерительно-вычислительных систем : Монография. - М. : Физматлит , 2004. - 400 с. ( 40 экз. )
3.
Хибель, Михаэль. Основы векторного анализа цепей. - М. : Издательский дом МЭИ , 2009. - 502 с. ( 8 экз. )
4.
Соловьев, Александр Николаевич. Основы геодезии и топографии [Электр.ресурс] : учебник для вузов. - СПб. : Лань , 2023 on-line ( экз. )
 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 191074
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)