Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОАНАЛИЗ<.>) |
Общее количество найденных документов : 13
Показаны документы с 1 по 13 |
1.
| Морозова, Ксения Николаевна. Основы электронной микроскопии [Электр.ресурс] : учебное пособие для вузов. - М. : Юрайт
: ИПЦ НГУ
, 2021 on-line (
экз. )
|
2.
| Суворов, Эрнест Витальевич. Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электр.ресурс] : учебное пособие для академического бакалавриата. - М. : Юрайт
, 2019 on-line (
экз. )
|
3.
| Салтыков, Саркис Андреевич. Стереометрическая металлография. - М. : Металлургия
, 1970. - 376 с (
1 экз. )
|
4.
|
Измерительная техника. - Журнал, 2016г. N 8 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
5.
|
Измерительная техника. - Журнал, 2016г. N 2 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
6.
|
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2014г. N 4 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
7.
| Байцер, Борис. Микроанализ производительности вычислительных систем : научное издание. - М. : Радио и связь
, 1983. - 360 с (
2 экз. )
|
8.
| Брандон, Дэвид. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : Учебное пособие для вузов : Пер. с англ.. - М. : Техносфера
, 2006. - 377[7] с. (
5 экз. )
|
9.
| Брандон, Дэвид. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов: пер. с англ.. - М. : Техносфера
, 2004. - 377[7] с. (
8 экз. )
|
10.
| Эггинс, Брайан Р.. Химические и биологические сенсоры : учебное пособие: пер. с англ.. - М. : Техносфера
, 2005. - 335[1] с. (
2 экз. )
|
11.
| РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ [] : В 2 КН.: ПЕР. С АНГЛ. / ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН. Кн. 2. - М. : Мир
, 1984. - 351 с. (
2 экз. )
|
12.
| РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ [] : В 2 КН.: ПЕР. С АНГЛ.. Кн. 1. - М. : Мир
, 1984. - 303 с. (
2 экз. )
|
13.
| Аукуционек, Сергей Павлович. Теория перехода к рынку. - М. : SvR-Аргус
, 1995. - 104 с. (
2 экз. )
|
|
|
Основная база библиотеки
Стандартный