Библиотека ТУСУРа

Базы данных

Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Основная база библиотеки

База данных нормативных документов

Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа

Календарь знаменательных дат

Электронные книги ЛитРес

ЭБС «Лань»

ЭБС «Юрайт»

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

База данных нормативных документов (1)

Формат представления найденных документов:
полный	для рабочих программ

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПЫ<.>)

Общее количество найденных документов : 31
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-31

621.385
Т56

    Томас, Г.
    Электронная микроскопия металлов. Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе / Г. Томас. - М. : Издательство иностранной литературы, 1963. - 351 с. - Пер. с англ. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833
669:621.385
~РУБ 621.385

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МЕТАЛЛОВЕДЕНИЕ

Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

537
И 889


    Исследование объектов, изменяющихся в процессе препарирования и наблюдения в электронном микроскопе : материалы симпозиума. М., май 1964г. / Академия наук СССР (М.), Научный совет по электронной микроскопии ; ред. В. К. Вайнштейн. - М. : Наука, 1966. - 96 с. - (Тематические сборники по актуальным вопросам электронной микроскопии ; вып. 1). - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833
~РУБ 537

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- СБОРНИКИ
Доп.точки доступа:
Вайнштейн, В. К. \ред.\
Академия наук СССР (М.). Научный совет по электронной микроскопии

Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

537
К 345

    Кельман, Вениамин Моисеевич.
    Электронная оптика / В. М. Кельман ; Академия наук СССР (М.). - 2-е изд., доп. - М. : Наука, 1968. - 175, [1] с. : ил., табл. - (Научно-популярная серия). - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
537.533.3
~РУБ 537

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛУЧИ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ
Доп.точки доступа:
Академия наук СССР (М.)

Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

537
К 345

    Кельман, Вениамин Моисеевич.
    Электронная оптика / В. М. Кельман, С. Я. Явор ; Академия наук СССР (Л.), Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе. - 3-е изд., перераб. и доп. - Л. : Наука, 1968. - 486[2] с. : ил. - Библиогр.: с. 476-485. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
537.533.3
~РУБ 537

Кл.слова (ненормированные):
ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- МАГНИТНЫЕ ЛИНЗЫ -- ЦИЛИНДРИЧЕСКИЕ ЛИНЗЫ -- КВАДРУПОЛЬНЫЕ ЛИНЗЫ -- ОТКЛОНЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ
Доп.точки доступа:
Явор, Стелла Яковлевна
Академия наук СССР (Л.). Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе

Имеются экземпляры в отделах: аунл (4 экз.)
Свободны: аунл (4)
Постоянная гиперссылка

621.383
П54

    Полянин, Олег Вячеславович.
    Оптико-электронные устройства / О. В. Полянин, Е. В. Ушаков. - М. : Энергия, 1969. - 72 с. - (Массовая радиобиблиотека ; вып.692). - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.383
~РУБ 621.383

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛАМПЫ -- МИКРОСКОПЫ
Доп.точки доступа:
Ушаков, Евгений Владимирович

Имеются экземпляры в отделах: аунл (3 экз.)
Свободны: аунл (3)
Постоянная гиперссылка

530.1
Б 434

    Беллюстин, Сергей Всеволодович.
    Классическая электронная теория [Текст] : / С. В. Беллюстин. - М. : Высшая школа, 1971. - 350 с. - Библиогр.: с. 346. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
539.25
~РУБ 530.1

Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСКОПИЯ

Имеются экземпляры в отделах: аунл (2 экз.)
Свободны: аунл (2)
Постоянная гиперссылка

537
Ш 500

    Шерстнев, Лев Гаврилович.
    Электронная оптика и электроннолучевые приборы : Учебник для вузов / Л. Г. Шерстнев. - М. : Энергия, 1971. - 367 с. : ил. - Библиогр.: с. 357-361. - 53.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
537.533.3(075.8)
621.385(075.8)
~РУБ 537

Кл.слова (ненормированные):
УЧЕБНИКИ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ЛИНЗЫ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУШКИ -- ОТКЛОНЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ -- ЛЮМИНЕСЦИРУЮЩИЕ ЭКРАНЫ -- ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫЕ ТРУБКИ -- ПЕРЕДАЮЩИЕ ТЕЛЕВИЗИОННЫЕ ТРУБКИ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (7 экз.), счз1 (1 экз.)
Свободны: аунл (7), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка

621.385
П324

    Пилянкевич, Александр Николаевич.
    Электронные микроскопы / Александр Николаевич Пилянкевич, Анатолий Миронович Климовицкий. - Киев : Техника, 1976. - 165 с. - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833
~РУБ 621.385
Доп.точки доступа:
Климовицкий, Анатолий Миронович

Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

681.7
Д957

    Дюков, Валентин Георгиевич.
    Растровая оптическая микроскопия : научное издание / Валентин Георгиевич Дюков, Юрий Алексеевич Кудеяров ; Московский физико-технический институт. - М. : Наука, 1992. - 206[2] с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр.: с. 203-207. - ISBN 5-02-014374-X (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
681.723
~РУБ 681.7

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- растровые оптические микроскопы -- оптические микроскопы
Доп.точки доступа:
Кудеяров, Юрий Алексеевич
Московский физико-технический институт

Свободных экз. нет
Постоянная гиперссылка

10.

537
П781


    Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская Академия наук, Институт общей физики ; Ред. А. В. Раков. - М. : Наука, 1995. - 165 с. - (Труды ИОФАН ; т.49). - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
537.533.35
621.385.833
~РУБ 537

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- линейные измерения -- микрообъекты
Доп.точки доступа:
Раков, А. В. \ред.\
Институт общей физики
Российская Академия наук

Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

11.

621.385
Р944

    Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учебное пособие для вузов / Сергей Александрович Рыков; Ред. В. И. Ильин, Ред. А. Я. Шик. - СПб. : Наука, 2001. - 52[4] c. : ил. - (Федеральная целевая программа "Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы") (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 15.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833:621.315.592(075.8)
62-181.48:621.385.833(075.8)
~РУБ 621.385

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- полупроводники -- наноструктуры -- учебные пособия -- микроскопы -- атомарно-силовые микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- спектроскопия -- туннельная спектроскопия
Доп.точки доступа:
Ильин, В. И. \ред.\
Шик, А. Я. \ред.\

Имеются экземпляры в отделах: аунл (5 экз.)
Свободны: аунл (5)
Постоянная гиперссылка

12.

621.385
М 641

    Миронов, Виктор Леонидович.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для вузов / В. Л. Миронов ; Российская Академия наук, Институт физики микроструктур (Нижний Новгород). - М. : Техносфера, 2004. - 143[1] с. : цв. ил. - (Мир физики и техники ; II-02). - Библиогр.: с. 116-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 232.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833.2(075.8)
~РУБ 621.385

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующие микроскопы -- учебные пособия -- нанотехнологии
Доп.точки доступа:
Российская Академия наук
Институт физики микроструктур (Нижний Новгород)

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (7 экз.), счз1 (2 экз.)
Свободны: аунл (7), счз1 (2)
Постоянная гиперссылка

13.

681.3
П 166

    Пантелеев, В.
    Компьютерная микроскопия : научное издание / В. Пантелеев, О. Егорова, Е. Клыкова. - М. : Техносфера, 2005. - 303[1] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-05). - Библиогр.: с. 302-303. - ISBN 5-94836-025-3 : 290.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
681.332.62:681.723
~РУБ 681.3

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- компьютерная микроскопия -- анализаторы изображения -- световые микроскопы -- медико-биологические анализаторы -- материаловедение -- обработка изображений
Доп.точки доступа:
Егорова, О.
Клыкова, Е.

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (3 экз.), счз1 (1 экз.)
Свободны: аунл (3), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка

14.

Шифр: И643213/2009/1
Журнал

Измерительная техника : научно-технический журнал/ Комитет стандартизации и метрологии Российской Федерации (М.), Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (М.), Российский научно-технический центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия (М.). - М., 1939 - . - ISSN 0368-1025. - Выходит ежемесячно
2009г. N 1

Содержание:
Денисенко, В. В. Динамическая погрешность многоканальных средств измерений / В. В. Денисенко. - С.3-6
Кл.слова: каналы, измерительные системы, сигналы
Карабутов, Н. Н. Структурная идентификация статических объектов на основе обработки результатов измерений / Н. Н. Карабутов. - С.6-12
Кл.слова: информационные портреты, объекты, нелинейные параметры
Бондаревский, А. С. Аналитическое проектирование средств контроля на примере систем функционального контроля интегральных микросхем / А. С. Бондаревский, Ф. В. Крекотень. - С.12-14
Кл.слова: оптимизация, математические модели, микросхемы
Волк, Ч. П. Измерение линейных размеров рельефных элементов микро- и наноструктур на высоко- и низковольтных растровых электронных микроскопах / Ч. П. Волк, Ю. А. Новиков, А. В. Раков. - С.15-17
Кл.слова: тест - объекты, ширина линии, микроскопы
Власов, Н. Г. Оптико-цифровые корреляторы / Н. Г. Власов. - С.18-22
Кл.слова: дифракция, обработка, Фурье преобразование
Березницкий, С. Л. Модернизация микроскопа МАС-1 для использования при измерении спектров электронов внутренней конверсии / С. Л. Березницкий, Д. Д. Богаченко, И. В. Гайдаенко. - С.22-24
Кл.слова: пластины, магнитные спектрографы, сканирование
Федоотов, В. Н. Оценка погрешностей беззапросных средств измерений ГЛОНАСС / В. Н. Федоотов. - С.25-28
Кл.слова: временные задержки, имитаторы, сигналы
Максименко, С. Г. Аналитическое выражение погрешности линейной оценки расхождения шкал времени / С. Г. Максименко. - С.28-31
Кл.слова: фильтры, Аллана дисперсия, плотность мощности
Жаркова, О. С. Оценка метрологической корректности стендовых испытаний роликового редуктора / О. С. Жаркова. - С.32-33
Кл.слова: сухое трение, фазохронометрия, математические модели
Иванова, А. Г. Зависимость температуры фазовых переходов эвтектического сплава GA-Zn от его морфологии / А. Г. Иванова, С. Ф. Герасимов. - С.34-37
Кл.слова: реперные точки, кристаллизация, морфология поверхности
Селиванова, З. М. Распознавание образов и выбор метода контроля теплофизических свойств материалов в интеллектуальных информационно-измерительных системах / З. М. Селиванова, С. Г. Бучнев. - С.37-40
Кл.слова: тестовые измерения, образы, материалы
Сергеев, С. Р. Проверка генераторных измерительных трансформаторов тока в действующих системах коммерческого учета электрической энергии / С. Р. Сергеев. - С.40-42
Кл.слова: проверка, токи, измерение
Казаков, О. А. Ортогональные проекторы и методы симметричных составляющих для многофазных электромагнитных систем / О. А. Казаков. - С.42-47
Кл.слова: вектор-функции, проекторы, операторы
Короткий, В. П. Модель магнитомодуляционного преобразователя / В. П. Короткий. - С.47-51
Кл.слова: феррозонд, магнитные поля, сигналы
Юрчук, Э. Ф. Обеспечение единства измерений в микроволновой радиометрии / Э. Ф. Юрчук, И. Е. Арсаев. - С.51-56
Кл.слова: зондирование, эталон, калибровка радиометра
Грачев, Н. Н. Измерение спектрально-энергетических характеристик контактных радиопомех типовых механических соединений и построение их эксплуатационных макромоделей / Н. Н. Грачев, Д. В. Лазарев. - С.57-61
Кл.слова: радиопомехи, измерительные системы, макромодели
Карабегов, М. А. О некоторых метрологических проблемах аналитических измерений / М. А. Карабегов. - С.62-67
Кл.слова: стандартные образцы, метрология, средства поверки
Бузановский, В. А. Структурные схемы измерительных систем физико-химического состава и свойств веществ с простыми измерительными каналами / В. А. Бузановский. - С.67-71
Кл.слова: показатели, каналы, преобразования пробы
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка

15.

Шифр: И643213/2009/2
Журнал

Содержание:
Гусев, А. В. Геофизические шумы гравитационной антенны ВИРГО / А. В. Гусев, А. Б. Манукин, В. Н. Руденко. - С.3-6
Кл.слова: деформация, антенны, оптические измерения
Костоглотов, А. А. Негладкий анализ в задачах обработки измерительной информации / А. А. Костоглотов, С. В. Лазаренко. - С.6-11
Кл.слова: измерения, обработка измерений, обратные задачи
Ростовцев, А. М. Математически нечеткое суммирование и оптимизация погрешностей измерений в технологической операции / А. М. Ростовцев. - С.12-17
Кл.слова: контроль, технические операции, нечеткие переменные
Любомудров, А. А. Оценка стойкости сложных технических систем при многократном нагружении / А. А. Любомудров, А. В. Абрамович. - С.17-19
Кл.слова: прочность, факторы, работоспособность
Котюк, А. Ф. Автономное экспериментальное оценивание нестабильностей генераторов сигналов и средств измерений / А. Ф. Котюк, И. В. Обухов. - С.20-22
Кл.слова: нестабильность генераторов, структурные функции, сигналы
Новиков, Ю. А. Классификация тест - объектов для калибровки растровых электронных микроскопов в нанометровом диапазоне / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа. - С.22-26
Кл.слова: микроскопы, калибровка, объекты
Белега, Д. Оценка влияния систематических погрешностей на точность определения нормированной частоты синусоидального сигнала методом дискретного преобразования Фурье с интерполяцией / Д. Белега, С. Запорожан. - С.26-30
Кл.слова: ДПФ методы, частоты, погрешности
Белозубов, Е. М. Воздействие термоудара на датчики мембранного типа / Е. М. Белозубов, В. А. Васильев, Д. А. Измейлов. - С.30-33
Кл.слова: давление, температура, термоудары
Зуев, А. В. Установка для определения предела прочности огнеупоров при изгибе при повышенных температурах / А. В. Зуев. - С.34-37
Кл.слова: машины, конструкции, установки
Козочкин, М. П. Аттракторы при резании и перспективы их использования в диагностике / М. П. Козочкин, Ф. С. Сабиров. - С.37-41
Кл.слова: процессы резания, фазовые траектории, диагностика
Бушмелева, К. И. Авиационный программно-аппаратный диагностический комплекс мониторинга магистральных газопроводов / К. И. Бушмелева, И. И. Плюснин. - С.41-44
Кл.слова: утечка газа, локаторы, обработка данных
Дмитриенко, Г. В. Измерение диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на СВЧ / Г. В. Дмитриенко, В. Г. Анисимов. - С.44-48
Кл.слова: датчики, конструкции, волноводы
Костылева, Ю. Г. Сравнение требований к энергетической зависимости чувствительности дозиметров фотонного и нейтронного излучений в различных нормах радиационной безопасности / Ю. Г. Костылева, И. П. Мысев. - С.49-55
Кл.слова: облучение, нейтроны, чувствительность
Величко, О. Н. Методики расчета выбросов загрязняющих веществ в атмосферу и оценка их неопределенности / О. Н. Величко, Т. Б. Годиенко. - С.55-60
Кл.слова: выбросы, вычисления, Исикавы диаграмма
Абдрахманова, В. Г. Метрологическая экспертиза - важнейший инструмент комплексного контроля производства и испытаний изделий / В. Г. Абдрахманова, С. В. Чуприков. - С.60-63
Кл.слова: метрология, измерения, контроль
Чинков, В. Н. Корректировка длительности межповерочных интервалов средств измерений по результатам контрольных проверок / В. Н. Чинков. - С.63-67
Кл.слова: технические характеристики, калибровка, работа
Миронченко, В. И. Методы повышения производительности сплошного контроля изделий серийного производства / В. И. Миронченко. - С.67-70
Кл.слова: единичные изделия, партии, методы
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка

16.

Шифр: И038466/2010/1
Журнал

Физика : научный журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (Томск), Томский государственный университет. - Томск : СФТИ, 1958 - . - ISSN 0021-3411. - Выходит ежемесячно
2010г. N 1

Содержание:
Ласуков, Владимир Васильевич. Нерелятивистская струна в сверхпространстве-времени / В. В. Ласуков. - С.3-9
Кл.слова: излучения, скалярное поле, квантовые нити
Перевозников, Евгений Николаевич. Проекционно-кинетический метод описания возмущений заряженной подсистемы в сильном электрическом поле / Е. Н. Перевозников, Г. Е. Скворцов. - С.10-14
Кл.слова: плазма, динамика возмущений, описание возмущений
Андреев, Василий Викторович. Электромагнитная структура W^± -бозонов в реакции е⁻е⁺ → W⁺W⁻ / В. В. Андреев, В. В. Андреев, А. А. Панков. - С.15-21
Кл.слова: константы аномальные калибровочные, анализ модельно независимый, момент магнитный дипольный
Грунская, Любовь Валентиновна. Лунные приливы в электрическом поле пограничного слоя атмосферы / Л. В. Грунская, В. Н. Морозов, В. А. Ефимов. - С.22-27
Кл.слова: приливы, атмосфера, сигналы
Гестрин, Сергей Геннадьевич. Резонансное взаимодействие упругих колебаний тонкого стержня со сдвиговым течением "мелкой воды" / С. Г. Гестрин, А. Н. Сальников, Е. К. Сергеева. - С.28-33
Кл.слова: инкремент, газы, скорость
Масловская, Анна Геннадьевна. Анализ тепловых эффектов, возникающих при взаимодействии электронных пучков с сегнетоэлектрическими кристаллами / А. Г. Масловская. - С.34-40
Кл.слова: микроскопы растровые электронные, воздействие тепловое, характеристики теплофизические
Будницкий, Давыд Львович. Фотоэлектрические характеристики монокристаллов ростового высокоомного CaAs / Д. Л. Будницкий, О. Б. Корецкая, О. П. Толбанов. - С.41-44
Кл.слова: фотопроводимость, монокристаллы, выращивание
Караваев, Геннадий Федорович. Изучение спектра сверхрешеток GaAs/AIAs(001) в рамках моделей с резкой и "плавной" границами / Г. Ф. Караваев, С. Н. Гриняев. - С.45-54
Кл.слова: гетерограницы, сверхрешетки, спектры
Марьянчук, Павел Дмитриевич. Магнитные и зонные параметры кристаллов (3HgS)_1-х(AI₂S₃)_х (x = 0,5), легированных марганцем / П. Д. Марьянчук, И. П. Козярский. - С.55-60
Кл.слова: кристаллы, кластер, сверхпроводимость
Бойдедаев, Собиржон Рахимович. Особенности магнитного линейного двулучепреломления в монокристалле α-Fe₂O₃:Ga / С. Р. Бойдедаев. - С.61-64
Кл.слова: монокристаллы, ферромагнетизм, намагничивание
Грибов, Юрий Ананьевич. Особенности структурно-фазовых состояний в тройных сплавах Ni₃(Mn, Ti) / Ю. А. Грибов, А. А. Клопотов, А. С. Тайлашев. - С.65-69
Кл.слова: сплавы, структура, свойства
Филиппов, Владимир Владимирович. Моделирование электронных свойств кремниевых наночастиц с плотной атомной упаковкой / В. В. Филиппов, А. Н. Власов. - С.70-75
Кл.слова: наночастицы, наноструктура, наноэлектроника
Князева, Анна Георгиевна. Модель роста покрытия в условиях магнетронного напыления / А. Г. Князева, С. А. Шанин. - С.76-81
Кл.слова: математическое моделирование, плазма, магнетронная
Белов, Николай Николаевич. Математическое моделирование поведения материалов и элементов конструкций в условиях неоднократных ударных нагрузок / Н. Н. Белов, Н. Т. Югов, Д. Г. Копаница. - С.82-89
Кл.слова: прочность, удар высокоскоростной, разрушение
Струнин, Владимир Иванович. Расчет химического состава гелий-силановой плазмы / В. И. Струнин, Е. А. Китаева, Г. Ж. Худайбергенов. - С.90-96
Кл.слова: электронный удар, пылевые частицы, метастабильный атом
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка

17.

Шифр: И643213/2010/2
Журнал

Содержание:
Берлянд, А. В. Государственный первичный эталон единиц мощности поглощенной дозы фотонного и электронного излучений, его совершенствование и результаты ключевых сличений / А. В. Берлянд, В. А. Берлянд, Ю. И. Брегадзе
Кл.слова: калориметры, ионизационные камеры, тепловые потоки
Севастьянов, В. Д. Исследование спектра нейтронов в центре цилиндрического кессона критического стенда КВАНТ / В. Д. Севастьянов, А. А. Быков, А. Е. Волков
Кл.слова: градуировка детекторов, ядерные установки, скорость реакции
Борисюк, П. В. Методика измерения температуры плавления нанокластеров золота на поверхности подложки / П. В. Борисюк, В. Д. Борман, П. А. Красовский
Кл.слова: Дебая температура, рассеяние электронов, аморфные пленки
Даньков, И. А. Упругие, пьезоэлектрические и диэлектрические свойства кристаллов лантан - галлиевого танталата в диапазоне температур 20-600 С / И. А. Даньков, К. В. Новичков, Е. Ф. Токарев
Крестовский, В. В. Новый государственный первичный специальный эталон единицы электрического напряжения - вольта - в диапазоне частот / В. В. Крестовский, Г. П. Телитченко, В. И. Шевцов
Кл.слова: метрологические характеристики, вольтметры напряжения, частоты
Новоселов, О. Н. Идентификация состояния динамических объектов по измеряемым параметрам: от теории к практике / О. Н. Новоселов
Кл.слова: Пуанкаре диаграмма, поле решений, геоакустический шум
Конов, С. Г. Мобильная координатно-измерительная система контактного типа на базе фотограмметрической системы / С. Г. Конов
Кл.слова: виртуальные щупы, следящие системы, трехмерное перемещение
Титов, А. А. Измерение размеров сальтирующих песчинок проекционным методом / А. А. Титов, И. Н. Коновалов
Кл.слова: лазеры, цифровые фотоаппараты, микроскопы
Никольский, А. А. Особенности контроля профиля поперечных сечений поршней на кругломерах с образцовым вращением шпинделя / А. А. Никольский, В. В. Королев, Д. Ю. Муринец
Кл.слова: овальные профили, эксцентрические среды, гармонический анализ
Липатов, Н. И. Рефлектометр на встречных световых пучках / Н. И. Липатов, А. С. Бирюков, Э. С. Гулямова
Кл.слова: падение излучения, абсолютные измерения, оптические элементы
Якименко, И. В. Метод компенсации излучения атмосферного фона / И. В. Якименко
Кл.слова: тепловые объекты, фильтры, теплопеленгаторы
Близнюк, В. В. Неселективный тепловой первичный измерительный преобразователь лазерного излучения с плоским зеркально отражающим коллектором энергии / В. В. Близнюк, А. А. Тинаев
Кл.слова: метрология, ионизированные примеси, длина волны
Кульчин, Ю. Н. Метод регистрации деформаций изгиба с применением волоконных световодов с низким значением приведенной частоты / Ю. Н. Кульчин, О. Б. Витрик, А. В. Дышлюк
Кл.слова: датчики, ослабление мощности, оптические оболочки
Гривастов, Д. А. Применение прецизионного многоканального измерителя температуры "Термоизмеритель ТМ-12" при поверке термометров сопротивления / Д. А. Гривастов, А. М. Кориков
Авдюшин, А. С. Аномальные ошибки при оценивании занятости радиочастотного спектра / А. С. Авдюшин, В. А. Козьмин, А. Б. Токарев
Кл.слова: распределение погрешности, радиоконтроль, частоты
Чумаченко, Е. Н. Моделирование механических свойств костных тканей челюсти и расчет напряженно-деформированного состояния зубочелюстных систем с искусственными включениями / Е. Н. Чумаченко, Г. Г. Левин, А. И. Воложин
Кл.слова: прогнозы осложнений, биометрические измерения, биомеханические системы
Булычев, Н. А. Исследование свойств дисперсных систем методом электрокинетической звуковой амплитуды. Ч. 1 / Н. А. Булычев
Кл.слова: адсорбция, мобильность частиц, разделы фаз
Александров, А. А. Система менеджмента качества ВНИИМ им. Д.И. Менделеева / А. А. Александров, М. В. Окрепилов, Н. И. Ханов
Кл.слова: государственные эталоны, стандартные образцы, базы данных
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка

18.

Шифр: И735453/2010/2
Журнал

Электроника : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.), Московский государственный институт электронной техники. - М. : МИЭТ, 1996 - . - ISSN 1561-5405. - Выходит раз в два месяца
2010г. N 2

Содержание:
Виноградов, А. И. Оптимизация параметров процесса глубокого плазмохимического травления кремния для элементов МЭМС / А. И. Виноградов, Н. М. Зарянкин, Е. П. Прокопьев
Кл.слова: реакторы, селективность кремния, оборудование
Гаврилов, С. А. Влияние состава растворов - прекурсоров на оптические свойства пленок In2S3, осаждаемых ионным наслаиванием / С. А. Гаврилов, А. В. Железнякова, Е. Н. Редичев
Кл.слова: пленки, синтез, реагенты
Багинский, И. Л. Обратимый быстродействующий "электростатический клей" / И. Л. Багинский, Э. Г. Косцов
Кл.слова: электроды, пленки, напряжение
Агеев, О. А. Фотоактивация процессов формирования наноструктур методом локального анодного окисления пленки титана / О. А. Агеев, Н. И. Алябьева, Б. Г. Коноплев
Кл.слова: нанолитография, пленки, наноэлектроника
Григорашвили, Ю. Е. Формирование наноразмерных сверхпроводниковых структур с критической температурой выше 100 К / Ю. Е. Григорашвили, А. В. Бухлин, И. В. Верюжский
Кл.слова: кристаллические решетки, напыление, сверхпроводники
Руднев, А. В. Механизм электрокристаллизации кобальта на монокристаллах Au (111) / А. В. Руднев, А. В. Хлынов
Кл.слова: микроскопы, сканирующие микроскопы, полимеры
Перминов, В. Н. Использование параметрической оптимизации при проектировании библиотечных элементов СБИС и специализированных интерфейсов наноэлектронных устройств / В. Н. Перминов, С. В. Макаров
Кл.слова: генераторы, Левенберга - Марквардта алгоритм, нагрузки
Беляев, А. А. Оптимальная по производительности глубина программного конвейера для приложений с программными переходами и зависимостью по данным / А. А. Беляев
Кл.слова: процессоры, рекуррентные формулы, конвейеры
Штерн, Ю. И. Разработка математических моделей для интеллектуальных систем управления прецизионным термическим оборудованием / Ю. И. Штерн, Я. С. Кожевников, В. М. Рыков
Кл.слова: термокамеры, термостаты, калибраторы
Яремчук, А. Ф. Применение коротких световых импульсов для измерения параметров солнечного элемента / А. Ф. Яремчук, А. В. Алексеев, А. В. Короткевич
Кл.слова: напряжение смещения, световые источники, световые потоки
Баин, А. М. Математическая модель системы дистанционного обучения / А. М. Баин
Кл.слова: образовательный процесс, рентабельность, стратегия цен
Гайдуков, Г. Н. Влияние упругого взаимодействия примесных атомов на их распределение в системе двумерных квантовых точек / Г. Н. Гайдуков, Н. Н. Жаринова
Кл.слова: полупроводники, примесные атомы, квантовые точки
Курина, В. В. Оценка эффективности применения дискретного псевдокосинусного преобразования для сжатия изображений / В. В. Курина
Кл.слова: изображения цифровые, кодирование
Петросянц, К. О. Трехмерное моделирование радиационных токов утечки в субмикронных МОП - транзисторах со структурой кремний - на - изоляторе / К. О. Петросянц, Е. В. Орехов, Л. М. Самбурский
Кл.слова: транзисторы, моделирование, заряды
Хаханин, С. Ю. Методы и средства контроля чистоты реагентов в безотходных технологиях очистки поверхности полупроводниковых структур / С. Ю. Хаханин
Кл.слова: микроэлектроника, полупроводники, реагенты
Вин, Аунг Пхио. Сравнение методов обнаружения периодичности стохастических сигналов / Аунг Пхио Вин, В. М. Трояновский
Кл.слова: радиоэлектроника, шумы, помехи
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка

19.

Шифр: И515367/2011/54/11
Журнал

Приборостроение : журнал информационных технологий, механики и оптики. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.), Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики. - СПб. : ЦНИИ " Электроприбор", 1958 - . - ISSN 0021-3454. - Выходит ежемесячно
2011г. т.54 N 11

Содержание:
Латыев, Святослав Михайлович. Проект линии автоматизированной сборки микрообъективов / С. М. Латыев, А. П. Смирнов, А. Г. Табачков. - С.7-13
Кл.слова: юстировка, контроль, линзы
Латыев, Святослав Михайлович. Унификация оптических и механических конструкций линзовых микрообъективов / С. М. Латыев, А. Г. Табачков, Д. Н. Фролов. - С.14-21
Кл.слова: линзы, тубусы, микроскопы
Смирнов, Александр Павлович. Математическая модель автоматизированной сборки микрообъективов / А. П. Смирнов, С. М. Латыев. - С.22-28
Кл.слова: компоненты, погрешности, координаты
Смирнов, Александр Павлович. автоматизированный пересчет оптических схем при конструировании / А. П. Смирнов, А. С. Резников, Д. А. Абрамов. - С.28-32
Кл.слова: программирование, оптимизация, окуляры
Иванов, Александр Николаевич. Алгоритм измерения геометрических параметров объекта по его муар-интерференционной картине / А. Н. Иванов, Ю. А. Каракулев, В. М. Михайлов. - С.33-37
Кл.слова: изображение, обработка, уравнения
Бурбаев, Амир Маруанович. Применение дисперсионного элемента при настройке интерферометров типа Цендера ― Маха / А. М. Бурбаев, В. В. Зюзин, М. Г. Лукин. - С.37-43
Кл.слова: полосы, регистрация, решетки
Разумовский, Игорь Тимофеевич. Пирометр для контроля перегрева скруток проводов линий электропередач / И. Т. Разумовский. - С.43-48
Кл.слова: каналы, температуры, индикаторы
Иванов, Александр Николаевич. Контроль геометрических параметров объекта по положению точек перегиба дифракционной картины Фраунгофера / А. Н. Иванов. - С.49-53
Кл.слова: измерения, пиксели, координаты
Назаров, Виктор Николаевич. Дифракционный метод контроля пространственного положения объектов с изменяющимся масштабом спектра Фурье / В. Н. Назаров, Ю. А. Соколов. - С.53-56
Кл.слова: измерение, интерференция, линзы
Польщиков, Георгий Владимирович. Использование режима теплового хранения термоупругого преобразователя для построения многоканальных измерительных систем / Г. В. Польщиков, Е. И. Шевнина, Шон Фам Лам. - С.56-60
Кл.слова: кварц, лазеры, излучения
Роженцов, Вадим Вячеславович. Гониоспектрорадиометрический метод определения пространственных спектральных характеристик локальных световых полей / В. В. Роженцов, Р. К. Мамедов. - С.60-64
Кл.слова: измерение, спектрофотометрия, свет
Абакшина, Ольга Алексеевна. Модернизация конструкций фотоэлектрических индикаторов линейных перемещений / О. А. Абакшина, Г. В. Егоров, С. М. Латыев. - С.65-69
Кл.слова: измерение, фотоприемники, сферометры
Назаров, Виктор Николаевич. Формирование муар - интерференционной картины при дифракции на щели между краем с конечной толщиной и зеркальной поверхностью / В. Н. Назаров, А. Н. Иванов. - С.69-72
Кл.слова: измерение, полосы, цилиндры
Бурбаев, Амир Маруанович. Применение инвариантных оптических систем в схемах контроля и юстировки ОЭП / А. М. Бурбаев, А. И. Леонтьева, Г. А. Одиноких. - С.72-79
Кл.слова: автоколлиматоры, отражатели, зеркала
Ишанин, Геннадий Григорьевич. Использование Френелевских ответвителей при построении проходных измерителей энергетических параметров лазерного излучения / Г. Г. Ишанин, Г. В. Польщиков, Е. И. Шевнина. - С.79-83
Кл.слова: поляризация, компенсаторы, пучки
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка

20.

Шифр: И515367/2012/55/10
Журнал

Содержание:
Бессмертный, И. А. Управление контекстом в информационных системах / И. А. Бессмертный. - С.7-13
Кл.слова: онтология, информационный поиск, индексация
Косяков, М. С. Применение технологии CUDA для ускорения расчета цен опционов европейского типа сеточным методом / М. С. Косяков, Д. Н. Шинкарук, А. В. Торопов. - С.13-19
Кл.слова: редукция, торговля, схема Кранка-Николсона
Шинкарук, Д. Н. Анализ эффективности применения технологии CUDA для решения систем линейных уравнений с трехдиагональными матрицами в задачах расчета цен опционов / Д. Н. Шинкарук, Ю. А. Шполянский, М. С. Косяков. - С.20-25
Кл.слова: редукция, прогонка, СЛАУ
Рубина, И. С. Исследование алгоритмов кодирования преобразованием в рамках задач сжатия опорных и остаточных кадров видеопоследовательности / И. С. Рубина, А. Ю. Тропченко. - С.26-30
Кл.слова: преобразование Хартли, матрица, пространственная модель
Тропченко, А. А. Нейросетевые методы идентификации человека по изображению лица / А. А. Тропченко, А. Ю. Тропченко. - С.31-36
Кл.слова: распознавание, личность, биометрические системы
Щеглов, К. А. Модель контроля доступа к создаваемым файловым объектам / К. А. Щеглов, А. Ю. Щеглов. - С.37-40
Кл.слова: защита информации, разграничение доступа, информационный поток
Поляков, В. И. Преобразование моделей алгоритмов / В. И. Поляков, В. И. Скорубский. - С.41-46
Кл.слова: регулярные языки, выражения, конечные автоматы
Алиев, Т. И. САПР маршрутизируемой компьютерной сети на основе компонентов с открытыми исходными кодами / Т. И. Алиев, В. В. Соснин, Д. Н. Шинкарук. - С.47-52
Кл.слова: туннелирование, дисциплины обслуживания, имитационное моделирование
Богатырев, В. А. Функциональная надежность вычислительных систем с перераспределением запросов / В. А. Богатырев, С. В. Богатырев, А. В. Богатырев. - С.53-57
Кл.слова: отказоустойчивость, перераспределение запросов, кластер
Алиев, Т. И. Задачи синтеза систем с потерями / Т. И. Алиев. - С.57-63
Кл.слова: накопитель, емкость, вероятность
Муравьева-Витковская, Л. А. Обеспечение качества обслуживания в мультисервисных компьютерных сетях за счет приоритетного управления / Л. А. Муравьева-Витковская. - С.64-68
Кл.слова: трафик, модель, функция
Ожиганов, А. А. Композиционные кодовые шкалы для преобразователей линейных перемещений / А. А. Ожиганов. - С.69-73
Кл.слова: считывание, элементы, габариты
Болгаров, И. С. Проектирование приборных контроллеров / И. С. Болгаров, Н. А. Маковецкая, А. Е. Платунов. - С.73-77
Кл.слова: эксперименты, зондовые микроскопы, заказное проектирование
Николаенков, А. В. Аспектные технологии в системах с преобладающей программной компонентной / А. В. Николаенков. - С.78-80
Кл.слова: программирование, фильтры, связи
Ожиганов, А. А. Система автоматизированного проектирования псевдорегулярных кодовых шкал / А. А. Ожиганов, И. Д. Захаров. - С.80-84
Кл.слова: преобразователь, перемещение, элементы
Чураев, С. О. Метод реверсивной случайной выборки для измерения с пикосекундным разрешением времени задержки в элементах интегральных схем / С. О. Чураев. - С.84-88
Кл.слова: разделение, фронт, спад
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка

1-20 21-31

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	147287
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)