Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСТРУКТУРА<.>)
Общее количество найденных документов : 34
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-34 
1.
55
А 925


   
    Атмосферная турбулентность и распространение радиоволн [Текст] : труды международного коллоквиума, Москва, 15-22 июня, 1965 г. / Академия наук СССР, Ин-т физики атмосферы ; ред.: А. М. Яглом, В. И. Татарский = Atmospheric turbulece and radio wave propagation : proceedings of the international colloquium, Moscow, june 15-22, 1965 / Yaglom, A. M. ; Tatarsky, V. I. - М. : Наука, 1967. - 375 с : рис., табл. - 02.26 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
2.
620.1
Б 874


    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов: пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. С. Л. Баженов, доп. к гл. 3 О. В. Егорова. - М. : Техносфера, 2004. - 377[7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-02. Цифровая обработка сигналов). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 290.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (6 экз.), счз1 (2 экз.)
Свободны: аунл (6), счз1 (2)
Постоянная гиперссылка
3.
620.1
Б 874


    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : Учебное пособие для вузов : Пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. : С. Л. Баженов ; авт. дополнения : О. В. Егорова. - М. : Техносфера, 2006. - 377[7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 174.63 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (5 экз.)
Свободны: аунл (5)
Постоянная гиперссылка
4.
Шифр: И643213/2011/6
   Журнал

Измерительная техника : научно-технический журнал/ Комитет стандартизации и метрологии Российской Федерации (М.), Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (М.), Российский научно-технический центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия (М.). - М., 1939 - . - ISSN 0368-1025. - Выходит ежемесячно
2011г. N 6
Содержание:
Гусев, А. В. Регистрация медленных геофизических возмущений на гравитационно-волновых интерферометрах / А. В. Гусев, В. Н. Руденко, И. С. Юдин. - С.3-7
Кл.слова: антенны, Паунда-Древера схема, оптические интерферометры
Соболев, В. И. Интеграция многомерных измерений в задачах коррекции взаимно-мультипликативных систематических погрешностей средств измерений / В. И. Соболев. - С.8-11
Кл.слова: оптимальные оценки, интеграция измерений, зависимость
Серых, В. И. Достоверность измерительного контроля с учетом требований к показателям точности измерений / В. И. Серых, Ю. А. Пальчун, И. Г. Квиткова. - С.12-15
Кл.слова: погрешности, затраты, измерительные модели
Домрачев, В. Г. Система управления выбором графических редакторов для решения конструкторских задач / В. Г. Домрачев, И. В. Антошина, М. В. Скрипник. - С.15-18
Кл.слова: нечеткое множество, лингвистическая шкала, качество
Этингоф, М. И. Технические измерения, взаимозаменяемость и нанометрология / М. И. Этингоф. - С.19-21
Кл.слова: приборы, измерения, метрология
Добродеев, А. Ю. Методика оценивания статистических характеристик потоков хакерских атак: исследование интервалов между атаками / А. Ю. Добродеев, А. В. Горшков, У. М. Тулемисов. - С.21-23
Кл.слова: вредоносные программы, фишинг-атаки, случайные события
Никольский, А. А. Точный метод измерений на кругломерах формы поперечных сечений сложного профиля без предварительного центрирования / А. А. Никольский, В. В. Королев. - С.24-29
Кл.слова: овальные профили, отклонения, гармонический анализ
Кульчин, Ю. Н. Амплитудная модуляция направляемого излучения в одномодовых волоконных световодах с низкой приведенной частотой при воздействии сейсмических сигналов / Ю. Н. Кульчин, О. Б. Витрик, А. В. Дышлюк. - С.30-32
Кл.слова: световоды, преобразователи, зондирование
Вишняков, Г. Н. Измерения разности фаз двулучепреломляющего материала на фазовом поляриметре с вращающимся анализатором / Г. Н. Вишняков, Г. Г. Левин, А. Г. Ломакин. - С.33-37
Кл.слова: Фурье преобразование, приборы, метрология
Солдатов, В. П. О погрешности измерения перемещений объектов из-за неравномерности распределения чувствительности элементов многоэлементных приемников излучения / В. П. Солдатов. - С.38-41
Кл.слова: излучения, моделирование, погрешности
Ившин, В. П. Построение алгоритма расчета расхода газожидкостной смеси в горизонтальном трубопроводе для микропроцессора информационно-измерительной системы / В. П. Ившин, М. Ю. Перухин, А. В. Фафурин. - С.41-43
Кл.слова: однофазный поток, устройство, жидкости
Добролюбов, И. П. Точностные и информационные показатели измерительных каналов экспертной системы двигателей / И. П. Добролюбов. - С.43-47
Кл.слова: внутреннее сгорание, каналы, количество информации
Курбатова, Н. А. Радиационно-конвективный метод и установка для поверки датчиков теплового потока на основе адиабатического излучателя / Н. А. Курбатова, В. Я. Черепанов. - С.48-50
Кл.слова: приборы, энергосбережение, тепловой поток
Касимов, Р. М. Измерения магнитных свойств жидких магнетиков в волноводах / Р. М. Касимов, Э. Г. Исмибейли, С. Р. Касимова. - С.51-53
Кл.слова: проницаемость, потери, волновод
Есман, А. К. Сенсорная структура для терагерцовых информационно-измерительных технологий / А. К. Есман, В. К. Кулешов, Г. Л. Зыков. - С.54-56
Кл.слова: излучение, микроструктура, преобразования
Мирошникова, И. Н. Шумовая спектроскопия как метод контроля качества разрабатываемых полупроводниковых приборов / И. Н. Мирошникова, В. П. Астахов, Е. В. Зенова. - С.56-59
Кл.слова: фотодиод, сульфид свинца, антимонид индия
Беспалько, В. А. Оценка джиттера тестовых генераторов с помощью аппаратуры измерения времени / В. А. Беспалько, Е. С. Буль. - С.59-62
Кл.слова: таймер событий, последовательности, генераторы
Костылева, Ю. Г. Измерение эффективной дозы в свете публикации 103 МКРЗ / Ю. Г. Костылева, И. П. Мысев. - С.63-66
Кл.слова: косвенные измерения, коэффициенты перехода, нормы
Карабегов, М. А. Пламенные фотометры. Основные параметры и метрологическое обеспечение / М. А. Карабегов. - С.67-62
Кл.слова: эмиссия, флуктуации пламени, метрология
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
5.
316
К832


    Кроль, Л. М.
    Человек-оркестр: микроструктура общения : научно-популярная литература / Л. М. Кроль, Е. Л. Михайлова. - М. : Независимая фирма "Класс", 1993. - 155[5] c. - (Библиотека практической психологии и психотерапии). - Библиогр.: с. 152-153. - ISBN 5-86375-002-2 (в пер.) : 6.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , кабинет ОН (1 экз.)
Свободны: кон (1)
Постоянная гиперссылка
6.
Шифр: И517352/2010/2
   Журнал

Материалы электронной техники : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.). - М. : МИСиС, 1998 - . - ISSN 1609-3577. - Выходит ежеквартально
2010г. N 2
Содержание:
Орлов, О. М. Некоторые тенденции развития и совершенствования КМОП-технологии нанометрового топологического диапазона / О. М. Орлов, В. Н. Мурашев. - С.4-12
Кл.слова: КМОП, СБИС, транзисторы
Богомолов, А. А. Пироэлектрический отклик и нестационарный фототок короткого замыкания в пленках сегнетоэлектрика-полупроводника Sn2P2S6 / А. А. Богомолов, А. В. Солнышкин, Д. А. Киселев. - С.13-17
Кл.слова: короткое замыкание, пленки, полупроводники
Кульчицкий, Н. А. Современное состояние производства CdTe, ZnTe и Cd1-хZnхTe / Н. А. Кульчицкий, А. В. Наумов. - С.17-24
Кл.слова: теллурид кадмия, детекторы, получение кристаллов
Колесников, Н. Н. Универсальная технология выращивания кристаллов широкозонных II-VI-соединений / Н. Н. Колесников, А. В. Тимонина. - С.24-28
Кл.слова: полупроводники, рост кристаллов, соединения II-VI
Бородин, А. В. Исследование микровключений в профилированных кристаллах сапфира / А. В. Бородин, В. А. Бородин, В. Е. Искоростинская. - С.29-33
Кл.слова: оптика, сапфир, дефекты
Афанасьев, Ю. Н. Влияние отклонения от стехиометрии на фазовый состав и свойства Y-Al-феррограната / Ю. Н. Афанасьев, И. С. Рыбачук, И. И. Канева. - С.34-38
Кл.слова: магнетит, ортоферрит иттрия, феррогранат
Акимова, Т. В. Ферритовые материалы для повышенных рабочих температур / Т. В. Акимова, Д. Г. Крутогин, Ю. М. Краюшкина. - С.38-42
Кл.слова: электроника, ферриты, материалы
Андреев, В. Г. Исследование влияния длительности измельчения порошков гексаферрита стронция на микроструктуру и свойства магнитов на их основе / В. Г. Андреев, И. И. Канева, С. В. Подгорная. - С.43-47
Кл.слова: микроструктура, частицы, гексаферрит стронция
Копаев, А. В. Влияние добавок оксидов металлов на температурную зависимость магнитных потерь в Mn-Zn-ферритах / А. В. Копаев. - С.47-49
Кл.слова: ферриты, оксиды металлов, магнитные потери
Корольченко, А. С. Исследование спектральных и фотоэлектрических параметров высоковольтных многопереходных солнечных батарей / А. С. Корольченко, С. А. Леготин, С. И. Диденко. - С.50-54
Кл.слова: солнечные батареи, КВМП, КВМСБ
Маняхин, Ф. И. Влияние режимов эксплуатации светодиодов на процесс дефектообразования в области p-n-перехода и снижение квантового выхода / Ф. И. Маняхин. - С.54-57
Кл.слова: светодиод, гетероструктура, точечные дефекты
Поляков, А. Я. Структурные и электрические свойства подложек AIN, используемых для выращивания светодиодных гетеростуктур / А. Я. Поляков, Н. Б. Смирнов, А. В. Говорков. - С.58-62
Кл.слова: нитрид алюминия, монокристаллы, проводимость
Крутогин, Д. Г. История электроники в России / Д. Г. Крутогин. - С.63-72
Кл.слова: радиотехника, радиоэлектроника, Россия
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
7.
Шифр: И517352/2010/4
   Журнал

Материалы электронной техники : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.). - М. : МИСиС, 1998 - . - ISSN 1609-3577. - Выходит ежеквартально
2010г. N 4
Содержание:
Меженный, М. В. Особенности формирования внутреннего геттера в бездислокационных пластинах кремния, легированных азотом / М. В. Меженный, М. Г. Мильвидский, В. Я. Резник. - С.4-10
Кл.слова: кремний, микроскопия, термообработка
Иванов, В. М. Применение способов гидрирования тетрахлорида кремния в технологии производства поликремния / В. М. Иванов, Ю. В. Трубицин. - С.10-13
Кл.слова: трихлорсилан, поликремний, плазмотрон
Портнов, О. Г. Выращивание из водных растворов монокристаллов технологической формы для устройств нелинейной оптики / О. Г. Портнов. - С.14-17
Кл.слова: лития иодат, формообразователь, огранка
Костишин, В. Г. Влияние микроструктуры на свойства радиопоглощающих никель-цинковых ферритов / В. Г. Костишин, Р. М. Вергазов, В. Г. Андреев. - С.18-21
Кл.слова: границы зерен, микроструктура, ферриты
Верезуб, Н. А. Тепловая оптимизация условий выращивания монокристаллов кремния на установке "Редмет-90М" / Н. А. Верезуб, А. И. Простомолотов. - С.22-25
Кл.слова: монокристаллы, оптимизация, Чохральского метод
Белогорохов, И. А. Теоретический расчет частот колебательных и вращательных переходов в органических полупроводниках на основе молекул безметального монофталоцианина / И. А. Белогорохов, Е. В. Тихонов, А. А. Добровольский. - С.26-30
Кл.слова: полупроводники, ИК-спектроскопия, молекулы
Яловега, Г. Э. Исследование фазового состава нанокомпозитных материалов SiO2CuОx методами рентгеновской спектроскопии поглощения и фотоэлектронной спектроскопии / Г. Э. Яловега, В. А. Шматко, Т. Н. Назарова. - С.31-35
Кл.слова: пленки, порошки, температура
Тимонина, А. В. Сорбция водорода углеродными наноматериалами / А. В. Тимонина, Д. Н. Борисенко, В. В. Кведер. - С.36-41
Кл.слова: нанотрубки, нановолокна, сорбция водорода
Павлов, Д. А. Влияние условий молекулярно-лучевого осаждения на структуру и свойства слоев кремния на сапфире / Д. А. Павлов, П. А. Шиляев, Е. В. Коротков. - С.42-46
Кл.слова: сапфир, кремний, рассеяние света
Енишерлова, К. Л. Влияние облучения тепловыми нейтронами на распад твердого раствора кислорода в кремнии / К. Л. Енишерлова, В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев. - С.47-52
Кл.слова: твердые растворы, термообработка, облучение
Щербачев, К. Д. Исследование эволюции дефектной структуры слоя Si после имплантации ионов 64Zn+ и последующих термических отжигов / К. Д. Щербачев, В. В. Привезенцев, В. В. Сарайкин. - С.53-58
Кл.слова: имплантация, дифракция, дефекты
Таланин, В. И. Программный комплекс для анализа и расчета образования ростовых микродефектов в бездислокационных монокристаллах кремния / В. И. Таланин, И. Е. Таланин, Н. Ф. Устименко. - С.59-64
Кл.слова: кристаллы, преципитат, кремний
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
8.
Шифр: И517352/2013/1
   Журнал

Материалы электронной техники : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.). - М. : МИСиС, 1998 - . - ISSN 1609-3577. - Выходит ежеквартально
2013г. N 1
Содержание:
Аветисов, И. Х. Область гомогенности теллурида цинка / И. Х. Аветисов, Е. Н. Можевитина, А. В. Хомяков. - С.4-10
Кл.слова: переход, полином, фаза
Быков, А. С. Формирование бидоменной структуры в пластинах монокристаллических сегнетоэлектриков стационарным распределением температурных полей / А. С. Быков, С. Г. Григорян, Р. Н. Жуков. - С.11-17
Кл.слова: литий, нагрев, поток
Быкова, М. Б. Обеспечение измерений оптических свойств монокристаллов и заготовок на их основе стандартными образцами предприятия / М. Б. Быкова, Ж. А. Гореева, И. С. Диденко. - С.18-22
Кл.слова: испытание, лаборатория, оптика
Костишин, В. Г. Исследование возможности получения феррита марки 2000НМ по короткой технологической схеме / В. Г. Костишин, И. И. Канева, В. Г. Андреев. - С.23-27
Кл.слова: кристалл, микроструктура, однородность
Шульпина, И. Л. Исследование дефектов в многослойных эпитаксиальных силовых приборах на основе кремния методами рентгеновской топографии / И. Л. Шульпина, В. А. Козлов. - С.28-34
Кл.слова: дефект, слой, сила
Смирнов, И. С. Применение метода in sity рентгеновской рефлектометрии для определения параметров наноразмерных пленок кремния / И. С. Смирнов, Е. Г. Новоселова, А. А. Егоров. - С.35-37
Кл.слова: напыление, пленка, слой
Войцеховский, А. В. Электрофизические и фотоэлектрические характеристики МДП-структур на основе гетероэпитаксиального HgCdTe, полученного методом молекулярно-лучевой эпитаксии, с неоднородным распределением состава / А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, С. М. Дзядух. - С.38-44
Кл.слова: ртуть, барьер, яма
Мазалов, А. В. Влияние условий роста на структурное совершенство слоев AIN, полученных методом МОС-гидридной эпитаксии / А. В. Мазалов, Д. Р. Сабитов, В. А. Курешов. - С.45-48
Кл.слова: нитрид, отношение, сапфир
Коноваленко, С. П. Прогнозирование влияния технологических параметров формирования газочувствительных материалов на основе полиакрилонитрила на электросопротивление / С. П. Коноваленко, Т. А. Бедная, Т. В. Семенистая. - С.48-52
Кл.слова: отжиг, полимер
Енишерлова, К. Л. Влияние свойств слоя кремния на емкостные параметры МДП/КНС-структур / К. Л. Енишерлова, В. Г. Горячев, Э. М. Темпер. - С.53-60
Кл.слова: зависимость, уровень, глубина
Муратов, Д. Г. Формирование нанокомпозитов Ni/C на основе полиакрилонитрила под действием ИК-излучения / Д. Г. Муратов, Е. В. Якушко, Л. В. Кожитов. - С.61-65
Кл.слова: частица, сопряжение, углерод
Аверичкин, П. А. Мелкодисперсные частицы метилсилсесквиоксанов с фрагментами SiO4/2 в структуре / П. А. Аверичкин, Ю. Б. Андрусов, И. А. Денисов. - С.65-79
Кл.слова: соединение, гидролиз, микроскопия
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
9.
Шифр: И517352/2015/1
   Журнал

Материалы электронной техники : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.). - М. : МИСиС, 1998 - . - ISSN 1609-3577. - Выходит ежеквартально
2015г. т.18 N 1 . - 3382.96, р.
Содержание:
Арендаренко, Алексей Андреевич. Тенденции развития эпитаксиальной технологии нитридных соединений / А. А. Арендаренко, В. А. Орешкин, Ю. Н. Свешников. - С.5-15
Кл.слова: нитрид галлия, гетероструктура, гетероэпитаксия
Федоров, Юрий Владимирович. Нитридные НЕМТ против арсенидных: последняя битва? / Ю. В. Федоров, С. В. Михайлович. - С.16-22
Кл.слова: пробивное напряжение, арсенидные гетероструктуры, нитридные гетероструктуры
Ганченкова, Мария Герасимовна. Влияние выбора параметров первопринципных расчетов на предсказания энергетики точечных дефектов в кремнии / М. Г. Ганченкова, И. А. Супрядкина, К. К. Абгарян. - С.23-30
Кл.слова: точечные дефекты, моделирование, кремний
Простомолотов, Анатолий Иванович. Дистанционное и сопряженное моделирование тепломассопереноса и дефектообразование в технологических процессах / А. И. Простомолотов, Н. А. Верезуб, Х. Х. Ильясов. - С.31-36
Кл.слова: сопряженное моделирование, комплекс программ, технологические примеры
Абгарян, Каринэ Карленовна. Математическое моделирование процессов формирования кластеров точечных дефектов в кремнии на базе молекулярно-динамического подхода / К. К. Абгарян, О. В. Володина, С. И. Уваров. - С.37-42
Кл.слова: многоуровневое моделирование, первопринципные расчеты, потенциал межатомного взаимодействия
Красиков, Дмитрий Николаевич. Исследование путей оптимизации материалов для солнечных батарей второго поколения методом многоуровневого моделирования / Д. Н. Красиков, А. В. Книжник, А. В. Гавриков. - С.43-47
Кл.слова: Монте-Карло метод, первопринципные расчеты, солнечные элементы
Абгарян, Каринэ Карленовна. Теоретическое исследование электронных и геометрических характеристик тонких пленок AlN / К. К. Абгарян, Д. И. Бажанов, И. В. Мутигуллин. - С.48-51
Кл.слова: полупроводниковые гетероструктуры, первопринципные расчеты, тонкие пленки
Харченко, Вячеслав Александрович. Проблемы надежности электронных компонентов / В. А. Харченко. - С.52-57
Кл.слова: отбраковочные испытания, наноразмерные структуры, схемотехнические решения
Кобелева, Светлана Петровна. О природе термоакцепторов в облученном электронами высокоомном кремнии / С. П. Кобелева. - С.58-61
Кл.слова: радиационно-технологические процессы, глубокие акцепторные центры, облучение электронами
Мокляк, Владимир Владимирович. Исследования магнитных и электрических сверхтонких взаимодействий в эпитаксиальной пленке железоиттриевого граната методом конверсионной электронной Мёссбауэровской спектроскопии / В. В. Мокляк. - С.62-68
Кл.слова: жидкофазная эпитаксия, магнитная микроструктура, эффективное магнитное поле
Павловская, Надежда Тарасовна. Магнетосопротивление облученных протонами нитевидных кристаллов Si0,97Ge0,03 / Н. Т. Павловская, П. Г. Литовченко, Ю. О. Угрин. - С.69-74
Кл.слова: нитевидные кристаллы, протонное облучение, магнетосопротивление
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
10.
Шифр: Н890139/2011/5
   Журнал

Нано-и микросистемная техника : междисциплинарный теоретический и прикладной научно-технический журнал/ Российская Академия Наук (М.), Отделение нанотехнологий и информационных технологий. - М. : Новые технологии, 1999 - . - ISSN 1813-8586. - Выходит ежемесячно
2011г. N 5
Содержание:
Раткин, Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники / Л. С. Раткин. - С.2-6
Кл.слова: стандартизация, нанометрология, калибровка
Дудин, А. А. Теория расчета основных параметров наночастиц для определения их состава / А. А. Дудин, Е. Ф. Кустов. - С.7-9
Кл.слова: теория, расчет, точечные группы
Сидорова, С. В. Исследование формирования островковых наноструктур в вакууме / С. В. Сидорова, П. И. Юрченко. - С.9-11
Кл.слова: микроскопия, медь, зависимость размеров
Богданов, С. А. Моделирование распределения потенциала в барьерах Шоттки с учетом краевых эффектов / С. А. Богданов, А. Г. Захаров, А. А. Лытюк. - С.12-15
Кл.слова: полупроводники, Пуассона уравнения, краевые эффекты
Войцеховский, А. В. Светоизлучающие гетероструктуры AlGaN/InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами / А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, Н. А. Кульчицкий. - С.16-23
Кл.слова: нитриды III группы, светодиоды, квантовые выходы
Синев, Л. С. Согласование коэффициентов термического расширения при электростатическом соединении кремния со стеклом / Л. С. Синев, В. Т. Рябов. - С.24-27
Кл.слова: анодная посадка, напряжение, тепловое расширение
Малышев, А. В. Исследование влияния технологии приготовления литий-титановой ферритовой керамики на ее электрофизические свойства / А. В. Малышев. - С.28-32
Кл.слова: домены, проницаемость, микроструктура
Хромова, Л. П. Формирование квазикристаллических структур в сплавах на основе алюминия / Л. П. Хромова, В. Ф. Коростелев. - С.33-38
Кл.слова: атомные группировки, кинетика аморфизации, кристаллы
Громов, Д. В. Влияние радиации на характеристики элементов на нитриде галлия / Д. В. Громов, Ю. А. Матвеев, Ю. В. Федоров. - С.39-48
Кл.слова: излучения, электронный газ, СВЧ-элементная база
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
 1-10    11-20   21-30   31-34 
 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 182430
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)