Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска
Основная база библиотеки
База данных нормативных документов
Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа
Календарь знаменательных дат
Электронные книги ЛитРес
ЭБС «Лань»
ЭБС «Юрайт»
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=РЕНТГЕНОВСКИЕ МЕТОДЫ<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.
Методы получения и свойства нанообъектов : учебное пособие. - М. : Флинта , 2009. - 168 с. ( 1 экз. )
2.
Смирнов, Серафим Всеволодович. Методы исследования материалов и структур электроники : учебно-методическое пособие по аудиторным практическим занятиям и самостоятельной работе для студентов специальности 210104.65 "Микроэлектроника и твердотельная электроника", направления 210100.62 "Электроника и микроэлектроника", направления 222900.62 "Нанотехнологии и микросистемная техника", 210100.62 "Электроника и наноэлектроника", 210600.62 "Нанотехнология". - Томск : ТУСУР , 2012. - 52 с. ( 44 экз. )
3.
Балазовский, Михаил Яковлевич. Рентгеновские пленки и их обработка. - М. : Машгиз , 1964. - 95 с. ( 2 экз. )
4.
Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. - М. : Физматгиз , 1961. - 863 с ( 1 экз. )
5.
Гинье А. Рентгенография кристаллов. Теория и практика. - М. : Физматгиз , 1961. - 604 с ( 3 экз. )
 
Стандартный
Расширенный
Профи
По словарю
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 105190
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)