Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=СПЕКТРОСКОПИИ<.>)
Общее количество найденных документов : 70
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60   61-70 
1.
Спектроскопия газоразрядной плазмы : научное издание. - Л. : Наука , 1970. - 362 с. ( 2 экз. )
2.
Зайдель, Александр Натанович. Техника и практика спектроскопии : научное издание. - М. : Наука , 1972. - 375 с. ( 1 экз. )
3.
Аналитические вычисления на ЭВМ в молекулярной спектроскопии. Общий алгоритм и применения к двухатомным молекулам : научное издание. - Новосибирск : Наука , 1986. - 192 с ( 1 экз. )
4.
Методы спектроскопии полупроводников : монография. - Новосибирск : Ин-т физики полупроводников СО АН СССР , 1986. - 168 с ( 1 экз. )
5.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Монография : Пер. с англ.. - М. : Мир , 1987. - 598[2] с. ( 1 экз. )
6.
Автоматизированная система комплексного исследования техногенных аномалий в атмосфере : доклад, тезисы доклада //Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2003. - С. 3-9 ( экз. )
7.
Панин А. А. Исследование пленок SiO2 методом инфракрасной Фурье-спектроскопии : доклад, тезисы доклада //Научная сессия ТУСУР-2005. - Томск : Издательство ТУСУР, 2005. - Ч. 2. - С.30-32 ( экз. )
8.
Багаева И. А. Определение состава оксидных пленок GAAS методом Фурье- спектроскопии //Научная сессия ТУСУР-2007. - Томск : В-Спектр, 2007. Ч. 1. - С.236-238 ( экз. )
9.
Алексеева Е. А. Организация центра коллективного пользования по электронной и молекулярной спектроскопии //Научная сессия ТУСУР-2008. - Томск : В-Спектр, 2008. - Ч. 5. - С.122-124. ( экз. )
10.
Юнусов И. В. Применение численных методов при анализе структуры диэлектрических слоев методом ИК-спектроскопии : доклад, тезисы доклада //Научная сессия ТУСУР-2008. - Томск : В-Спектр, 2008. - Ч. 4. - С.45-46 ( экз. )
11.
Саврук Е. В. Диагностика тонкопленочных наноразмерных структур Та2О5 методами молекулярной, электронной спектроскопии и микроскопии, лазерной эллипсометрии : доклад, тезисы доклада //Электронные средства и системы управления. Итоги реализации программы развития электроники и IT-технологий в Томской области. - Томск : В-Спектр, 2009. - С.223-228 ( экз. )
12.
Физика. - Журнал. Известия ВУЗов, 2010г. N 4 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
13.
Физика. - Журнал. Известия ВУЗов, 2010г. N 8 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
14.
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2010г. N 4 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
15.
Физика. - Журнал. Известия ВУЗов, 2011г. N 10 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
16.
Радиотехника и электроника. - Журнал, 2011г. т.56 N 10 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
17.
Материалы электронной техники. - Журнал. Известия ВУЗов, 2011г. N 1 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
18.
Приборостроение. - Журнал. Известия ВУЗов, 2011г. т.54 N 2 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
19.
Приборостроение. - Журнал. Известия ВУЗов, 2011г. т.54 N 9 (Введено оглавление) ( 1 экз. )
20.
, 2011г.6 (Введено оглавление) ( экз. )
 1-20    21-40   41-60   61-70 
 
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 204635
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)