Поисковый запрос: (<.>K=измерение<.>) |
Общее количество найденных документов : 651
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Абдуллаев, Джура Абдуллаевич. Контроль и измерение частотных характеристик каналов систем передачи сообщений. - Ташкент : Фан
, 1989. - 120 с. (
экз. )
|
2.
| Абубакиров, Булат Абдрахманович. Измерение параметров радиотехнических цепей : . - М. : Радио и связь
, 1984. - 248 с. (
7 экз. )
|
3.
|
Автоматизация и современные технологии. - Журнал, 2011г. N 12 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
4.
|
Автоматизация и современные технологии. - Журнал, 2011г. N 3 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
5.
| Агафонников, Виктор Филиппович. Измерение h-параметров транзисторов [Электр.ресурс] : методические указания по выполнению лабораторной работы. - Томск
, 2012 on-line ; 10 с (
экз. )
|
6.
| Агафонников, Виктор Филиппович. Измерение ширины базы триода [Электр.ресурс] : методические указания по выполнению лабораторной работы. - Томск
, 2012 on-line ; 7 с (
экз. )
|
7.
| Акрестина, Анна Сергеевна. Измерение коэффициента пропускания цветного оптического стекла [Электр.ресурс] : методические указания к лабораторным работам. - Томск
, 2012 on-line ; 15 с (
экз. )
|
8.
| Акрестина, Анна Сергеевна. Измерение показателя преломления оптического стекла рефрактометрическим методом [Электр.ресурс] : методические указания к лабораторным работам. - Томск
, 2012 on-line ; 20 с (
экз. )
|
9.
| Аксенов, Александр Иванович. Измерение контактной разности потенциалов [Электр.ресурс] : методические указания к лабораторной работе для студентов направления 210100.62 – Электроника и наноэлектроника. - Томск
, 2013 on-line ; 19 с (
экз. )
|
10.
| Алфёров С. М. Измерение угла границы объекта на видеокадре низкого разрешения с использованием априорной информации : доклад
//Научная сессия ТУСУР-2011. - Томск : В-Спектр. - Ч. 3. - С.9-10 (
экз. )
|
11.
| Алфёров, Сергей Михайлович. Измерение угла наклона объекта на видеокадре низкого разрешения с использованием априорной информации
//Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники : периодический научный журнал / Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : Издательство ТУСУР, 2011. - N 1. - С. 168-170 (
экз. )
|
12.
| Андреев А. А. Измерение эквивалентной изотропно изучаемой мощности (Э. И. И. М. ) по напряжённости поля : научное издание
//Научная сессия ТУСУР-2008. - Томск : В-Спектр, 2008. - Ч. 1. - С.14-16 (
экз. )
|
13.
|
Антенны. - Журнал, 2017г. N 7 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
14.
|
Антенны. - Журнал, 2018г. N 4 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
15.
| Антонишен И. В. Измерение значений параметров внутреннего сопротивления химических источников тока : доклад
//Научная сессия ТУСУР-2010. - Томск : В-Спектр. - Ч. 4. - С.101-103. (
экз. )
|
16.
| Апасов В. И. Микропроцессорная система сбора данных : доклад
//Научная сессия ТУСУР-2011. - Томск : В-Спектр. - Ч. 4. - С.254-257 (
экз. )
|
17.
| Аппаратура и методы контроля параметров силовых полупроводниковых вентилей : научное издание. - М. : Энергия
, 1971. - 184 с. (
экз. )
|
18.
| Аппельт В Э. Измерение энергетического спектра шероховатостей поверхности оптического волокна : научное издание
//Электронные средства и системы управления. - Томск : Издательство Института оптики атмосферы СО РАН, 2003. - С.153-154 (
экз. )
|
19.
| Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике : монография. - М. : ДМК Пресс
, 2012. - 688 с (
30 экз. )
|
20.
| Батавин, Виталий Васильевич. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур : научное издание. - М. : Радио и связь
, 1985. - 264 с (
2 экз. )
|
|
|
|
Основная база библиотеки
Стандартный