Библиотека ТУСУРа

Базы данных

Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Основная база библиотеки

База данных нормативных документов

Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа

Календарь знаменательных дат

Электронные книги ЛитРес

ЭБС «Лань»

ЭБС «Юрайт»

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	для рабочих программ

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроанализ<.>)

Общее количество найденных документов : 13
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-13

681.5
Э 170

    Эггинс, Брайан Р..
    Химические и биологические сенсоры : учебное пособие: пер. с англ. / Б. Р. Эггинс ; пер. М. А. Слинкин, дополнения Т. М. Зимина, дополнения В. В. Лучинин. - М. : Техносфера, 2005. - 335[1] с. : ил., табл. - (Мир электроники ; VII-08). - Библиогр.: с. 333-335. - ISBN 5-94836-045-8 : 232.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
681.586:[544+57](075.8)
~РУБ 681.5

Кл.слова (ненормированные):
сенсоры -- учебные пособия -- химические сенсоры -- биологические сенсоры -- трансдьюсеры -- распознавание молекул -- оптические сенсоры -- гравиметрические сенсоры -- термометрические сенсоры -- микроанализ -- биосенсоры см. биологические сенсоры
Доп.точки доступа:
Слинкин, М. А. \пер.\
Зимина, Т. М. \дополнения.\
Лучинин, В. В. \дополнения.\

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (2 экз.)
Свободны: аунл (2)
Постоянная гиперссылка

620.1
Б 874

    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов: пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. С. Л. Баженов, доп. к гл. 3 О. В. Егорова. - М. : Техносфера, 2004. - 377[7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-02. Цифровая обработка сигналов). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 290.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
620.186/187(075.8)
537.533.35(075.8)
~РУБ 620.1

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроструктура -- учебные пособия -- дифракция -- дифракционный анализ -- кристаллические структуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ -- количественный анализ
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л. \ред. пер.\
Егорова, О. В. \доп. к гл. 3.\
Брандон, Е.

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (6 экз.), счз1 (2 экз.)
Свободны: аунл (6), счз1 (2)
Постоянная гиперссылка

620.1
Б 874

    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : Учебное пособие для вузов : Пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. : С. Л. Баженов ; авт. дополнения : О. В. Егорова. - М. : Техносфера, 2006. - 377[7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 174.63 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
620.186/187(075.8)
537.533.35(075.8)
~РУБ 620.1

Кл.слова (ненормированные):
учебные пособия -- микроструктура -- материаловедение -- материалы -- дифракционный анализ -- кристаллические структуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ -- количественный анализ
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л. \ред. пер.\
Егорова, О. В. \авт. дополнения.\

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (5 экз.)
Свободны: аунл (5)
Постоянная гиперссылка

339
А931

    Аукуционек, Сергей Павлович.
    Теория перехода к рынку / Сергей Павлович Аукуционек. - М. : SvR-Аргус, 1995. - 104 с. : ил. - (Программа "Обновление гуманитарного образования в России"). - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
339.13
330.101.542
~РУБ 339

Кл.слова (ненормированные):
микроэкономика -- микроанализ -- экономические науки -- рынок -- экономика -- рыночная экономика

Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.), счз1 (1 экз.), КИПР
Свободны: аунл (1), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка

621.385
Р245

    РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ : в 2 КН.: ПЕР. С АНГЛ. - М. : МИР, 1984 - .
   Кн. 1 / Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин. - М. : Мир, 1984. - 303 с. - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833
537.533.35
543.422.8
~РУБ 621.385
Доп.точки доступа:
Ньюбери, Д.
Эчлин, П.

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (2 экз.)
Свободны: аунл (2)
Постоянная гиперссылка

621.385
Р245

    РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ : в 2 КН.: ПЕР. С АНГЛ. / ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН. - М. : МИР, 1984 - .
   Кн. 2 / Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин. - М. : Мир, 1984. - 351 с. - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833
537.533.35
543.422.8
~РУБ 621.385
Доп.точки доступа:
Ньюбери, Д.
Эчлин, П.

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (2 экз.)
Свободны: аунл (2)
Постоянная гиперссылка

681.3
Б 189

    Байцер, Борис.
    Микроанализ производительности вычислительных систем [Текст] : научное издание / Б. Байцер ; ред., пер. В. В. Мартынюк. - М. : Радио и связь, 1983. - 360 с. - Библиогр.: с. 349-356. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
681.324
~РУБ 681.3

Кл.слова (ненормированные):
ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ МАШИНЫ -- МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ
Доп.точки доступа:
Мартынюк, В. В. \ред., пер.\

Имеются экземпляры в отделах: аунл (2 экз.)
Свободны: аунл (2)
Постоянная гиперссылка

620.1
С 16

    Салтыков, Саркис Андреевич.
    Стереометрическая металлография [Текст] / С. А. Салтыков. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1970. - 376 с : рис., табл. - Библиогр.: с. 371-375. - 03.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
620.18:669
~РУБ 620.1

Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРА СПЛАВОВ -- МЕТОДЫ ОЦЕНКИ -- СТРОЕНИЕ МЕТАЛЛОВ -- СТРОЕНИЕ СПЛАВОВ -- МИКРОСТРУКТУРЫ -- МИКРОШЛИФ -- СТЕРЕОМЕТРИЧЕСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ -- КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ МИКРОАНАЛИЗ -- АВТОМАТИЧЕСКИЕ УСТРОЙСТВА

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

620
С 891

    Суворов, Эрнест Витальевич.
    Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие для академического бакалавриата / Э. В. Суворов ; рец.: В. Е. Антонов, А. С. Аронин. - 2-е изд., перераб. и доп. - Электрон. текстовые дан. - М. : Юрайт, 2019. - on-line : табл., рис., схемы. - (Бакалавр. Академический курс). - Библиогр. в конце глав. - Библиогр.: с. 149-151. - ISBN 978-5-534-06011-9 : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
620.18(075.8)
~РУБ 620

Кл.слова (ненормированные):
УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ -- ДИФРАКЦИЯ -- РАССЕЯНИЕ -- ВОЛНОВОЕ ПОЛЕ -- МИКРОСКОПИЯ -- ТОПОГРАФИЯ -- ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ -- ДЕТЕКТОРЫ -- МИКРОАНАЛИЗ

Доп.точки доступа:
Антонов, В. Е. \рец.\
Аронин, А. С. \рец.\

Перейти к внешнему ресурсу https://urait.ru/viewer/materialovedenie-metody-issledovaniya-struktury-i-sostava-materialov-438493#page/1
Постоянная гиперссылка

10.

537
М 801

    Морозова, Ксения Николаевна.
    Основы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие для вузов / К. Н. Морозова ; рец. Н. П. Бгатова. - 2-е изд. - Электрон. текстовые дан. - М. : Юрайт ; Новосибирск : ИПЦ НГУ, 2021. - on-line : рис., фот. - (Высшее образование). - Библиогр.: с. 83-84. - ISBN 978-5-534-14415-4(Изд-во Юрайт). - ISBN 978-5-4437-1104-1(ИПЦ НГУ) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
537.533.35(075.8)
~РУБ 537

Кл.слова (ненормированные):
УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ -- ФИКСАЦИЯ -- МИКРОСКОПЫ -- ВИЗУАЛИЗАЦИЯ -- МИКРОАНАЛИЗ -- КРИОСРЕЗЫ -- ДЕГИДРАТАЦИЯ -- СТЕРЕОЛОГИЯ -- ИНТЕРПРЕТАЦИИ -- ПОСТФИКСАЦИЯ

Доп.точки доступа:
Бгатова, Н. П. \рец.\

Перейти к внешнему ресурсу https://urait.ru/viewer/osnovy-elektronnoy-mikroskopii-477565#page/1
Постоянная гиперссылка

1-10 11-13

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	115501
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)