Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 169
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Лейзегант З. Электронная микроскопия. - М. : Издательство иностранной литературы
, 1960. - 240 с. (
1 экз. )
|
2.
| Томас Г. Электронная микроскопия металлов. Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе. - М. : Издательство иностранной литературы
, 1963. - 351 с (
1 экз. )
|
3.
| Катализ [] : сборник научных статей. Т. 13 : Физико-химия гетерогенного катализа
, 1967. - 480 с. (
1 экз. )
|
4.
| Шалимов В. А. Вопросы автоматического счета частиц и определения их размеров телевизионным способом : диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук. - Томск
, 1968. - 161 с. (
1 экз. )
|
5.
| Бунин, Константин Петрович. Металлография : учебное пособие для вузов. - М. : Металлургия
, 1970. - 254 с (
1 экз. )
|
6.
| Беллюстин, Сергей Всеволодович. Классическая электронная теория : . - М. : Высшая школа
, 1971. - 350 с (
2 экз. )
|
7.
| Эндрюс К. Электронограммы и их интерпретация : научное издание. - М. : Мир
, 1971. - 256 с. (
1 экз. )
|
8.
| Автоионная микроскопия : . - М. : Мир
, 1971. - 270 с. (
2 экз. )
|
9.
| Электронная микроскопия в минералогии : Пер. с англ.. - М. : Мир
, 1979. - 544 с. (
1 экз. )
|
10.
| Васичев, Борис Никитович. Электронная микроскопия : научное издание. - М. : Знание
, 1980. - 64 с. (
1 экз. )
|
11.
| РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ [] : В 2 КН.: ПЕР. С АНГЛ.. Кн. 1. - М. : Мир
, 1984. - 303 с. (
2 экз. )
|
12.
| РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ И РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ [] : В 2 КН.: ПЕР. С АНГЛ. / ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН; ГОУЛДСТЕЙН. Кн. 2. - М. : Мир
, 1984. - 351 с. (
2 экз. )
|
13.
| Броудай, Ивор. Физические основы микротехнологии : Пер. с англ.. - М. : Мир
, 1985. - 494, [2] с. (
9 экз. )
|
14.
| Бредов, Михаил Михайлович. Классическая электродинамика : учебное пособие для втузов. - М. : Наука
, 1985. - 400 с. (
3 экз. )
|
15.
| Попов, Владимир Федорович. Процессы и установки электронно-ионной технологии : учебное пособие для вузов. - М. : Высшая школа
, 1988. - 256 с. (
4 экз. )
|
16.
| Бушнев, Лев Сергеевич. Основы электронной микроскопии : Учебное пособие. - Томск : Издательство Томского университета
, 1990. - 218[2] с. (
4 экз. )
|
17.
| Дюков, Валентин Георгиевич. Растровая оптическая микроскопия : научное издание. - М. : Наука
, 1992. - 206[2] с. (
экз. )
|
18.
| Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах. - М. : Наука
, 1995. - 165 с. (
1 экз. )
|
19.
| Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учебное пособие для вузов. - СПб. : Наука
, 2001. - 52[4] c. (
5 экз. )
|
20.
| Бредов, Михаил Михайлович. Классическая электродинамика : Учебное пособие. - СПб. : Лань
, 2003. - 398[2] с. (
50 экз. )
|
|
|
|
Основная база библиотеки
Стандартный