Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска
Основная база библиотеки
База данных нормативных документов
Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа
Календарь знаменательных дат
Электронные книги ЛитРес
ЭБС «Лань»
ЭБС «Юрайт»
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Поисковый запрос: (<.>K=растровая электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах. - М. : Наука , 1995. - 165 с. ( 1 экз. )
 
Стандартный
Расширенный
Профи
По словарю
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 5326
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)