Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска
Основная база библиотеки
База данных нормативных документов
Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа
Календарь знаменательных дат
Электронные книги ЛитРес
ЭБС «Лань»
ЭБС «Юрайт»
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая туннельная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учебное пособие для вузов. - СПб. : Наука , 2001. - 52[4] c. ( 5 экз. )
2.
Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах. - М. : Наука , 1995. - 165 с. ( 1 экз. )
 
Стандартный
Расширенный
Профи
По словарю
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 3420
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)