Поисковый запрос: (<.>K=температурная зависимость<.>) |
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14 |
1.
| Гончарова, Юлия Сергеевна. Тепловой режим полупроводниковых источников света при ускоренных испытаниях на надежность и долговечность : дис. на соиск. ученой степ. канд. технических наук. Спец. 05.11.07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. - Томск
, 2016. - 146 с (
1 экз. )
|
2.
| Гончарова, Юлия Сергеевна. Тепловой режим полупроводниковых источников света при ускоренных испытаниях на надежность и долговечность : автореф. дис. на соиск. ученой степ. канд. технических наук. Спец. 05.11.07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. - Томск
, 2016. - 22 с (
2 экз. )
|
3.
| Выборнов, Павел Викторович. Неохлаждаемый болометр на основе Ti50.5Ni49.5для оптико-электронных измерительных систем : дис. на соиск. ученой степ. канд. технических наук. Спец. 05.11.07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. - Томск
, 2017. - 132 с (
1 экз. )
|
4.
| Выборнов, Павел Викторович. Неохлаждаемый болометр на основе Ti50.5Ni49.5для оптико-электронных измерительных систем : автореф. дис. на соиск. ученой степ. канд. технических наук. Спец. 05.11.07 - Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. - Томск
, 2017. - 23 с (
2 экз. )
|
5.
|
Радиотехника и электроника. - Журнал, 2015г. т.60 N 10 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
6.
| Славникова, Марина Михайловна. Исследование температурной зависимости электропроводности германия [Электр.ресурс] : руководство к лабораторной работе по курсу «Физические основы микро- и нано - электроники» для студентов специальностей 211000
, 2015. - 11 с on-line (
экз. )
|
7.
| Славникова, Марина Михайловна. Исследование температурной зависимости электрической проводимости твердых диэлектриков [Электр.ресурс] : методические указания к лабораторной работе. - Томск
, 2012 on-line ; 13 с (
экз. )
|
8.
| Бурдовицин, Виктор Алексеевич. Изучение распределения Больцмана [Электр.ресурс] : методические указания к лабораторной работе. - Томск
, 2007 on-line ; 8 с (
экз. )
|
9.
| Мухачев, Валерий Александрович. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника по температурной зависимости обратного тока диода [Электр.ресурс] : руководство к лабораторной работе. - Томск
, 2009 on-line ; 11 с (
экз. )
|
10.
|
Измерительная техника. - Журнал, 2011г. N 5 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
11.
| Несмелов, Николай Сергеевич. Исследование температурной зависимости электропроводности германия : Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202. - Томск : ТУСУР
, 2007. - 11 с. (
23 экз. )
|
12.
| Битнер Л. Р. Материалы и элементы электронной техники : Методические указания к лабораторным работам. - Томск : ТУСУР
, 2006. - 47 с. (
26 экз. )
|
13.
| Мухачев, Валерий Александрович. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника по температурной зависимости обратного тока диода : руководство к лабораторным работам по физике для студентов всех специальностей. - Томск : ТУСУР
, 2004. - 12 с. (
3 экз. )
|
14.
|
Электроника. - Журнал. Известия ВУЗов, 2011г. N 2 (Введено оглавление) (
1 экз. )
|
|
|
Основная база библиотеки
Стандартный