Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=537.311.322:548.4<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
Бургуэн, Жак. Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты : научное издание. - М. : Мир , 1985. - 304 с ( 1 экз. )
2.
Емцев, Вадим Валентинович. Примеси и точечные дефекты в полупроводниках : научное издание. - М. : Радио и связь , 1981. - 248 с ( 2 экз. )
3.
Электронные свойства дислокаций в полупроводниках : монография. - М. : Эдиториал УРСС , 2000. - 319[1] с. ( 1 экз. )
 
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 55386
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)