Поисковый запрос: (<.>U=621.382.019.3<.>) |
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7 |
>1.
| Чернышев, Александр Алексеевич. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем : . - М. : Мир
, 1988. - 254, [2] с. (
11 экз. )
|
>2.
| Пряников, Виссарион Семенович. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов : . - М. : Энергия
, 1978. - 111, [1] с. (
4 экз. )
|
>3.
| Обеспечение надежности полупроводниковых устройств. - М. : Мир
, 1964. - 464 с. (
2 экз. )
|
>4.
| Надежность полупроводниковых устройств : сборник статей. - М. : Издательство иностранной литературы
, 1963. - 426 с. (
3 экз. )
|
>5.
| Методика. Обеспечение надежности на этапе проектирования. Выбор параметров компонентов электронных схем с учетом требований надежности с применен. ЭВМ. - М.
, 1974. - 40 с. (
экз. )
|
>6.
| Горюнов, Николай Николаевич. Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении. - М. : Энергия
, 1970. - 103 с. (
3 экз. )
|
>7.
| Бардин, Вадим Михайлович. Надежность силовых полупроводниковых приборов : научное издание. - М. : Энергия
, 1978. - 95 с (
1 экз. )
|
|