Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.382.019.3<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.
Бардин, Вадим Михайлович. Надежность силовых полупроводниковых приборов : научное издание. - М. : Энергия , 1978. - 95 с ( 1 экз. )
2.
Методика. Обеспечение надежности на этапе проектирования. Выбор параметров компонентов электронных схем с учетом требований надежности с применен. ЭВМ. - М. , 1974. - 40 с. ( экз. )
3.
Горюнов, Николай Николаевич. Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении. - М. : Энергия , 1970. - 103 с. ( 3 экз. )
4.
Обеспечение надежности полупроводниковых устройств. - М. : Мир , 1964. - 464 с. ( 2 экз. )
5.
Надежность полупроводниковых устройств : сборник статей. - М. : Издательство иностранной литературы , 1963. - 426 с. ( 3 экз. )
6.
Чернышев, Александр Алексеевич. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем : . - М. : Мир , 1988. - 254, [2] с. ( 11 экз. )
7.
Пряников, Виссарион Семенович. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов : . - М. : Энергия , 1978. - 111, [1] с. ( 4 экз. )
 
Статистика
за 07.07.2024
Число запросов 201311
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)