Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска
Основная база библиотеки
База данных нормативных документов
Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа
Календарь знаменательных дат
Электронные книги ЛитРес
ЭБС «Лань»
ЭБС «Юрайт»
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный для рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.382.049.77.019.3<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.
Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем [] : Материалы 4 Всес. науч. -техн. семинара, Рязань, 16-18 июня 1987г.: В 2 ч / Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР, Рязанский радиотехнический институт. Ч. 2. - Рязань : РРТИ , 1987. - 159 с. ( 1 экз. )
2.
Смирнов, Николай Исаакович. Оценка безотказности интегральных микросхем. - М. : Радио и связь , 1983. - 102 с. ( 1 экз. )
3.
Ефимов, Иван Ефимович. Надежность интегральных полупроводниковых схем. - М. : Издательство стандартов , 1969. - 74 с ( 5 экз. )
4.
Воробьев, Владимир Леонидович. Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств. - М. : Наука , 1989. - 159 с. ( 3 экз. )
5.
Чернышев, Александр Алексеевич. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем : . - М. : Мир , 1988. - 254, [2] с. ( 11 экз. )
 
Стандартный
Расширенный
Профи
По словарю
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 50167
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)