Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=контактная разность потенциалов<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
537
Ш 200


    Шангин, Александр Сергеевич.
    Определение ширины запрещенной зоны полупроводникового материала методом экстракции неосновных носителей : руководство к лабораторной работе по дисциплине "Физические основы электронной техники" для студентов специальности 0611 и 0612 / А. С. Шангин ; Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР, Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники, Кафедра электронных приборов. - Томск : ТИАСУР, 1987. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 16. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Свободных экз. нет
Постоянная гиперссылка
2.
537
Ш 200


    Шангин, Александр Сергеевич.
    Измерение контактной разности потенциалов : руководство к лабораторной работе по дисциплине "Физические основы электронной техники" для студентов специальности 0611 "Электронные приборы" и 0612 "Промышленная электроника" / А. С. Шангин ; Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР, Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники, Кафедра электронных приборов. - Томск : ТИАСУР, 1987. - 27 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 26-27. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: счз1 (1 экз.)
Свободны: счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 04.07.2024
Число запросов 13545
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)