Библиотека ТУСУРа

Базы данных

Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Основная база библиотеки

База данных нормативных документов

Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа

Календарь знаменательных дат

Электронные книги ЛитРес

ЭБС «Лань»

ЭБС «Юрайт»

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	для рабочих программ

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Брандон, Дэвид$<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

620.1
Б 874

    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : Учебное пособие для вузов : Пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. : С. Л. Баженов ; авт. дополнения : О. В. Егорова. - М. : Техносфера, 2006. - 377[7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 174.63 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
620.186/187(075.8)
537.533.35(075.8)
~РУБ 620.1

Кл.слова (ненормированные):
учебные пособия -- микроструктура -- материаловедение -- материалы -- дифракционный анализ -- кристаллические структуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ -- количественный анализ
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л. \ред. пер.\
Егорова, О. В. \авт. дополнения.\

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (5 экз.)
Свободны: аунл (5)
Постоянная гиперссылка

620.1
Б 874

    Брандон, Дэвид.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для вузов: пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. С. Л. Баженов, доп. к гл. 3 О. В. Егорова. - М. : Техносфера, 2004. - 377[7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-02. Цифровая обработка сигналов). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 290.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
620.186/187(075.8)
537.533.35(075.8)
~РУБ 620.1

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроструктура -- учебные пособия -- дифракция -- дифракционный анализ -- кристаллические структуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ -- количественный анализ
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л. \ред. пер.\
Егорова, О. В. \доп. к гл. 3.\
Брандон, Е.

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (6 экз.), счз1 (2 экз.)
Свободны: аунл (6), счз1 (2)
Постоянная гиперссылка

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	113717
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)