Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска
Основная база библиотеки
База данных нормативных документов
Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа
Календарь знаменательных дат
Электронные книги ЛитРес
ЭБС «Лань»
ЭБС «Юрайт»
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Поисковый запрос: (<.>K=ПАРАМЕТРЫ НАДЕЖНОСТИ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
А
Ш 123

    Шабанов, Андрей Александрович.
    Исследование и разработка методики оценки эффективности взаимозаменяемости микросхем в радиоэлектронной аппаратуре на основании критической совокупности их характеристик [Текст] : автореферат диссертации ... кандидата технических наук: 2.2.2 / А. А. Шабанов ; Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (Москва), кафедра интегральной электроники и микросхем. - М., 2022. - 26 с.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: сбо (1 экз.)
Свободны: сбо (1)
Постоянная гиперссылка
 
Стандартный
Расширенный
Профи
По словарю
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 118310
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)