Кл.слова (ненормированные):
electromagnetic compatibility -- integrated circuit -- tests -- Keywords—TEM-cell

Доп.точки доступа:
Komnatnov, Maxim
Institute of Electrical and Electronics Engineers (New York)
Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics (Tomsk). Department of Television and Control
2017 International Multi-Conference on Engineering, Computer and Information Sciences (2017 ; 18-22 Sep 2017 ; Novosibirsk Akademgorodok)

УДК	802.0(075.8)

~РУБ 802.0
Доп.точки доступа:
Kerr, Rosalie

УДК	802.0(075.8)

~РУБ 802.0
Доп.точки доступа:
Kerr, Rosalie

УДК	802.0(075.8)

~РУБ 802.0

УДК	802.0(075.8)

~РУБ 802.0
Доп.точки доступа:
Wilson, Judith

УДК	802.0(075.8)

~РУБ 802.0
Доп.точки доступа:
McDowell, Clare

УДК	802.0(075.8)

~РУБ 802.0
Доп.точки доступа:
Ireland, Sue

УДК	802.0(076)

~РУБ 802.0