Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ПРИЕМОПЕРЕДАЮЩИЕ МОДУЛИ<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
621.382
Н 580


   Нефедов, Анатолий Владимирович

    Зарубежные аналоговые микросхемы и их аналоги : справочник: В 8 т. / А. В. Нефедов. - М. : РадиоСофт, 2000 - .
   Т. 6 : Каталог. - 866 с. - ISBN 5-93037-045-1 (в пер.) : 130.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: счз1 (1 экз.)
Свободны: счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
2.
621.382
Н 580


   Нефедов, Анатолий Владимирович

    Интегральные микросхемы и их зарубежные аналоги : справочник / А. В. Нефедов. - М. : РадиоСофт, 2000 - .
   Т. 6 : Серии К565 - К599. - 546 с. : ил. - Библиогр.: с. 542. - ISBN 5-93037-039-7 (в пер.) : 75.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: счз1 (1 экз.)
Свободны: счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
3.
621.382
Н 580


   Нефедов, Анатолий Владимирович

    Интегральные микросхемы и их зарубежные аналоги : справочник / А. В. Нефедов. - М. : РадиоСофт, 1999 - .
   Т. 6 : Серии К565-К599 : каталожное издание. - М. : РадиоСофт, 1999. - 540[4] с. : ил. - Библиогр.: с. 541. - 88.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , счз1 (1 экз.), аунл (1 экз.)
Свободны: счз1 (1), аунл (1)
Постоянная гиперссылка
4.
Шифр: И643213/2010/7
   Журнал

Измерительная техника : научно-технический журнал/ Комитет стандартизации и метрологии Российской Федерации (М.), Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (М.), Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (М.), Российский научно-технический центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия (М.). - М., 1939 - . - ISSN 0368-1025. - Выходит ежемесячно
2010г. N 7
Содержание:
Фельдман, Г. Г. Генератор временных интервалов на основе эталона Фабри-Перо / Г. Г. Фельдман, А. Б. Берлизов, М. А. Карпов
Кл.слова: лазеры, лазерные пучки, интерферометры
Демченко, А. А. Использование многокадровых электронно-оптических камер для измерения скоростей перемещения / А. А. Демченко, В. Б. Лебедев, Г. Г. Фельдман
Кл.слова: фотографические методы, скорость измерений, погрешности
Абдрахманов, К. Ш. Установка для измерений параметров качества короткоимпульсного лазерного пучка / К. Ш. Абдрахманов, М. В. Улановский
Кл.слова: расходимость, лазерные системы, погрешности
Хлевной, Б. Б. Международные сличения CCPR-S1 единиц спектральной плотности энергетической яркости в диапазоне длин волн 220-2500 нм / Б. Б. Хлевной, В. И. Саприцкий, С. С. Колесникова
Кл.слова: ленточные лампы, радиометрия
Морозова, С. П. Монохроматический источник излучения для калибровки аппаратуры наблюдения Земли по относительной спектральной чувствительности / С. П. Морозова, Б. Е. Лисянский, Н. А. Парфентьев
Кл.слова: излучатели, длина волны, изображения
Аневский, С. И. Разработка и исследование измерительного комплекса энергетической яркости в области вакуумного и ближнего ультрафиолета на основе ПЗС-матриц / С. И. Аневский, Б. С. Волков, И. В. Дробков
Кл.слова: нанолитография, спектрорадиометрия, лазерная плазма
Золотаревский, Ю. М. Использование синхротронного излучения для исследования многослойных наноструктур / Ю. М. Золотаревский, С. И. Аневский, В. С. Иванов
Кл.слова: наноэлектроника, фотолитография, пленки
Минаев, В. Л. Влияние эффекта изменения фазы отраженной волны на измерения формы поверхности в оптической профилометрии / В. Л. Минаев, К. Е. Лощилов
Кл.слова: сканирующий микроскоп, микроскопия, автоматизация
Левин, Г. Г. Определение наноперемещений объекта по оптическому фазовому изображению / Г. Г. Левин, Я. А. Илюшин, В. Л. Минаев
Кл.слова: микроскопия, интерференция, наноперемещение
Глазов, А. И. Метрологическое обеспечение измерений параметров волоконно-оптических систем передачи информации / А. И. Глазов, В. С. Иванов, В. Е. Кравцов
Кл.слова: эталоны, поверочная схема, излучения
Зайцев, Д. Ф. Проблемы метрологического обеспечения измерений параметров оптических сигналов и устройств в радиолокационных системах аналоговой нанофотоники / Д. Ф. Зайцев, В. Н. Крутиков, К. Ю. Сахаров
Кл.слова: антенные решетки, сигналы, приемопередающие модули
Тихомиров, С. В. Эталонный комплекс сверхкоротких электромагнитных импульсов с длительностью фронта 20 пс / С. В. Тихомиров, К. Ю. Сахаров, О. В. Михеев
Кл.слова: преобразователи, передача информации, воспроизведение
Григорьев, В. В. Эталонная аппаратура для средств измерений поляризационной модовой дисперсии в волоконно-оптических системах передачи информации / В. В. Григорьев, В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев
Кл.слова: анализаторы, оптический импульс, эталонный измеритель
Сахаров, К. Ю. Исследование неопределенности воспроизведения единиц напряженностей импульсных электрического и магнитного полей в эталонном комплексе сверхкоротких электромагнитных импульсов с длительностью фронта 20 пс / К. Ю. Сахаров, О. В. Михеев, В. А. Туркин
Кл.слова: импульсы, напряжение, генераторы
Маленков, И. В. Применение кристаллофосфоров на основе редкоземельных элементов для определения спектрального разрешения и калибровки шкалы длин волн люминесцентных спектрометров / И. В. Маленков
Кл.слова: люминесценция, кристаллофосфор, спектр возбуждения
Муравская, Н. П. Оптико-физические измерения в химической физике, физической химии и нанохимии / Н. П. Муравская, В. М. Лахов, С. А. Кайдалов
Кл.слова: фотоэлектронные приборы, электровакуумные приборы, спектральные измерения
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 56300
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)