Библиотека ТУСУРа

Базы данных

Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Основная база библиотеки

База данных нормативных документов

Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа

Календарь знаменательных дат

Электронные книги ЛитРес

ЭБС «Лань»

ЭБС «Юрайт»

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	для рабочих программ

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеноэлектронная спектроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 1

539.2
А 640


    Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Монография : Пер. с англ. / М. П. Сих [и др.] ; ред. : Д. Бриггс, М. П. Сих ; ред. пер. : В. И. Раховский, И. С. Рез. - М. : Мир, 1987. - 598[2] с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 589-592. - 6.40 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
539.26
~РУБ 539.2

Кл.слова (ненормированные):
поверхностные явления -- анализ -- спектрометрические измерения -- фотоэлектронные приборы -- рентгенодиагностика -- оже-спектроскопия -- спектроскопия -- рентгеноэлектронная спектроскопия
Доп.точки доступа:
Сих, М. П.
Бриггс, Д.
Ривьер, Дж. К.
Хофман, С.
Олсон, Р. Р.
Бриггс, Д. \ред.\
Сих, М. П. \ред.\
Раховский, Вадим Израилевич \ред. пер.\
Рез, И. С. \ред. пер.\

Имеются экземпляры в отделах: , аунл (1 экз.), счз1
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	107338
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)