Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=сканирующие микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
621.385
М 641


    Миронов, Виктор Леонидович.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для вузов / В. Л. Миронов ; Российская Академия наук, Институт физики микроструктур (Нижний Новгород). - М. : Техносфера, 2004. - 143[1] с. : цв. ил. - (Мир физики и техники ; II-02). - Библиогр.: с. 116-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 232.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (7 экз.), счз1 (2 экз.)
Свободны: аунл (7), счз1 (2)
Постоянная гиперссылка
2.
Шифр: И735453/2010/2
   Журнал

Электроника : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.), Московский государственный институт электронной техники. - М. : МИЭТ, 1996 - . - ISSN 1561-5405. - Выходит раз в два месяца
2010г. N 2
Содержание:
Виноградов, А. И. Оптимизация параметров процесса глубокого плазмохимического травления кремния для элементов МЭМС / А. И. Виноградов, Н. М. Зарянкин, Е. П. Прокопьев
Кл.слова: реакторы, селективность кремния, оборудование
Гаврилов, С. А. Влияние состава растворов - прекурсоров на оптические свойства пленок In2S3, осаждаемых ионным наслаиванием / С. А. Гаврилов, А. В. Железнякова, Е. Н. Редичев
Кл.слова: пленки, синтез, реагенты
Багинский, И. Л. Обратимый быстродействующий "электростатический клей" / И. Л. Багинский, Э. Г. Косцов
Кл.слова: электроды, пленки, напряжение
Агеев, О. А. Фотоактивация процессов формирования наноструктур методом локального анодного окисления пленки титана / О. А. Агеев, Н. И. Алябьева, Б. Г. Коноплев
Кл.слова: нанолитография, пленки, наноэлектроника
Григорашвили, Ю. Е. Формирование наноразмерных сверхпроводниковых структур с критической температурой выше 100 К / Ю. Е. Григорашвили, А. В. Бухлин, И. В. Верюжский
Кл.слова: кристаллические решетки, напыление, сверхпроводники
Руднев, А. В. Механизм электрокристаллизации кобальта на монокристаллах Au (111) / А. В. Руднев, А. В. Хлынов
Кл.слова: микроскопы, сканирующие микроскопы, полимеры
Перминов, В. Н. Использование параметрической оптимизации при проектировании библиотечных элементов СБИС и специализированных интерфейсов наноэлектронных устройств / В. Н. Перминов, С. В. Макаров
Кл.слова: генераторы, Левенберга - Марквардта алгоритм, нагрузки
Беляев, А. А. Оптимальная по производительности глубина программного конвейера для приложений с программными переходами и зависимостью по данным / А. А. Беляев
Кл.слова: процессоры, рекуррентные формулы, конвейеры
Штерн, Ю. И. Разработка математических моделей для интеллектуальных систем управления прецизионным термическим оборудованием / Ю. И. Штерн, Я. С. Кожевников, В. М. Рыков
Кл.слова: термокамеры, термостаты, калибраторы
Яремчук, А. Ф. Применение коротких световых импульсов для измерения параметров солнечного элемента / А. Ф. Яремчук, А. В. Алексеев, А. В. Короткевич
Кл.слова: напряжение смещения, световые источники, световые потоки
Баин, А. М. Математическая модель системы дистанционного обучения / А. М. Баин
Кл.слова: образовательный процесс, рентабельность, стратегия цен
Гайдуков, Г. Н. Влияние упругого взаимодействия примесных атомов на их распределение в системе двумерных квантовых точек / Г. Н. Гайдуков, Н. Н. Жаринова
Кл.слова: полупроводники, примесные атомы, квантовые точки
Курина, В. В. Оценка эффективности применения дискретного псевдокосинусного преобразования для сжатия изображений / В. В. Курина
Кл.слова: изображения цифровые, кодирование
Петросянц, К. О. Трехмерное моделирование радиационных токов утечки в субмикронных МОП - транзисторах со структурой кремний - на - изоляторе / К. О. Петросянц, Е. В. Орехов, Л. М. Самбурский
Кл.слова: транзисторы, моделирование, заряды
Хаханин, С. Ю. Методы и средства контроля чистоты реагентов в безотходных технологиях очистки поверхности полупроводниковых структур / С. Ю. Хаханин
Кл.слова: микроэлектроника, полупроводники, реагенты
Вин, Аунг Пхио. Сравнение методов обнаружения периодичности стохастических сигналов / Аунг Пхио Вин, В. М. Трояновский
Кл.слова: радиоэлектроника, шумы, помехи
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 144541
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)