Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=спектрометрические измерения<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
539.2
А 640


   
    Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Монография : Пер. с англ. / М. П. Сих [и др.] ; ред. : Д. Бриггс, М. П. Сих ; ред. пер. : В. И. Раховский, И. С. Рез. - М. : Мир, 1987. - 598[2] с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 589-592. - 6.40 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (1 экз.), счз1
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
2.
621.37/39
Ц74


    Цитович, Александр Павлович.
    Ядерная электроника : Учебное пособие для вузов / Александр Павлович Цитович. - М. : Энергоатомиздат, 1984. - 408 с. : ил. - Библиогр.: с. 396-400. -Предм. указ.: с. 400-402. - (в пер.) : 7.68 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 102885
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)