Библиотека ТУСУРа

Базы данных

Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Основная база библиотеки

База данных нормативных документов

Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа

Календарь знаменательных дат

Электронные книги ЛитРес

ЭБС «Лань»

ЭБС «Юрайт»

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	для рабочих программ

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

621.38
В 573

    Владимиров, Георгий Георгиевич.
    Физическая электроника. Эмиссия и взаимодействие частиц с твердым телом [Текст] : учебное пособие / Г. Г. Владимиров. - СПб. ; М. ; Краснодар : Лань, 2013. - 368 с. : рис., табл. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 357-364. - ISBN 978-5-8114-1515-1 : 949.96 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.38(075.8)
537.5(075.8)
~РУБ 621.38

Кл.слова (ненормированные):
УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ ГАЗ -- ЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ ПОЛЕ -- ТЕРМОЭМИССИОННЫЙ ТОК -- ЛЕНГМЮРА ЗАКОН -- ЭЛЕКТРОСТАТИКА -- ПОЛУПРОВОДНИКИ -- ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ИОНИЗАЦИЯ -- ДЕСОРБЦИЯ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ДИСПЕРСИОННЫЕ ЗАВИСИМОСТИ -- ИОНЫ -- КАТОДНОЕ РАСПЫЛЕНИЕ

Имеются экземпляры в отделах: , счз1 (1 экз.), аунл (1 экз.)
Свободны: счз1 (1), аунл (1)
Постоянная гиперссылка

621.382
С 506

    Смирнов, Серафим Всеволодович.
    Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем [Электронный ресурс] : учебное пособие / С. В. Смирнов ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск). - Электрон. текстовые дан. - Томск : [б. и.], 2010. - on-line, 115 с. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.382.049.77.001.893(075.8)
62-181.48(075.8)
~РУБ 621.382

Кл.слова (ненормированные):
ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЛАЗЕРНАЯ ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ -- ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ

Доп.точки доступа:
Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск)

Перейти к внешнему ресурсу http://edu.tusur.ru/training/publications/535
Постоянная гиперссылка

621.382
С 506

    Смирнов, Серафим Всеволодович.
    Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем [Текст] : учебное пособие / С. В. Смирнов ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Государственная корпорация "Российская корпорация нанотехнологий", Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2010. - 115 с. : ил. - (Образовательная программа переподготовки). - Библиогр.: с. 113. - 220.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.382.049.77.001.893(075.8)
62-181.48(075.8)
~РУБ 621.382

Кл.слова (ненормированные):
ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЛАЗЕРНАЯ ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ -- ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ -- МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Доп.точки доступа:
Министерство образования и науки Российской Федерации
Государственная корпорация "Российская корпорация нанотехнологий"
Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

Имеются экземпляры в отделах: аунл (2 экз.), счз1 (3 экз.)
Свободны: аунл (2), счз1 (3)
Постоянная гиперссылка

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	18455
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)