Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска
Основная база библиотеки
База данных нормативных документов
Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа
Календарь знаменательных дат
Электронные книги ЛитРес
ЭБС «Лань»
ЭБС «Юрайт»
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Поисковый запрос: (<.>K=растровая электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
537
П781

   
    Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская Академия наук, Институт общей физики ; Ред. А. В. Раков. - М. : Наука, 1995. - 165 с. - (Труды ИОФАН ; т.49). - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
 
Стандартный
Расширенный
Профи
По словарю
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 138161
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)