Библиотека ТУСУРа

Базы данных

Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Основная база библиотеки

База данных нормативных документов

Персоналии ученых-профессоров ТУСУРа

Календарь знаменательных дат

Электронные книги ЛитРес

ЭБС «Лань»

ЭБС «Юрайт»

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	для рабочих программ

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая туннельная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

621.385
Р944

    Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учебное пособие для вузов / Сергей Александрович Рыков; Ред. В. И. Ильин, Ред. А. Я. Шик. - СПб. : Наука, 2001. - 52[4] c. : ил. - (Федеральная целевая программа "Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы") (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 15.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
621.385.833:621.315.592(075.8)
62-181.48:621.385.833(075.8)
~РУБ 621.385

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- полупроводники -- наноструктуры -- учебные пособия -- микроскопы -- атомарно-силовые микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- спектроскопия -- туннельная спектроскопия
Доп.точки доступа:
Ильин, В. И. \ред.\
Шик, А. Я. \ред.\

Имеются экземпляры в отделах: аунл (5 экз.)
Свободны: аунл (5)
Постоянная гиперссылка

537
П781


    Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская Академия наук, Институт общей физики ; Ред. А. В. Раков. - М. : Наука, 1995. - 165 с. - (Труды ИОФАН ; т.49). - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
УДК
537.533.35
621.385.833
~РУБ 537

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- линейные измерения -- микрообъекты
Доп.точки доступа:
Раков, А. В. \ред.\
Институт общей физики
Российская Академия наук

Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	138557
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)