Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=электронные микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.
530.1
Б 434


    Беллюстин, Сергей Всеволодович.
    Классическая электронная теория [Текст] : / С. В. Беллюстин. - М. : Высшая школа, 1971. - 350 с. - Библиогр.: с. 346. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (2 экз.)
Свободны: аунл (2)
Постоянная гиперссылка
2.
537
К 345


    Кельман, Вениамин Моисеевич.
    Электронная оптика / В. М. Кельман ; Академия наук СССР (М.). - 2-е изд., доп. - М. : Наука, 1968. - 175, [1] с. : ил., табл. - (Научно-популярная серия). - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
3.
537
Ш 500


    Шерстнев, Лев Гаврилович.
    Электронная оптика и электроннолучевые приборы : Учебник для вузов / Л. Г. Шерстнев. - М. : Энергия, 1971. - 367 с. : ил. - Библиогр.: с. 357-361. - 53.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (7 экз.), счз1 (1 экз.)
Свободны: аунл (7), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
4.
537
К 345


    Кельман, Вениамин Моисеевич.
    Электронная оптика / В. М. Кельман, С. Я. Явор ; Академия наук СССР (Л.), Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе. - 3-е изд., перераб. и доп. - Л. : Наука, 1968. - 486[2] с. : ил. - Библиогр.: с. 476-485. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (4 экз.)
Свободны: аунл (4)
Постоянная гиперссылка
5.
537
И 889


   
    Исследование объектов, изменяющихся в процессе препарирования и наблюдения в электронном микроскопе : материалы симпозиума. М., май 1964г. / Академия наук СССР (М.), Научный совет по электронной микроскопии ; ред. В. К. Вайнштейн. - М. : Наука, 1966. - 96 с. - (Тематические сборники по актуальным вопросам электронной микроскопии ; вып. 1). - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
6.
537
П781


   
    Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская Академия наук, Институт общей физики ; Ред. А. В. Раков. - М. : Наука, 1995. - 165 с. - (Труды ИОФАН ; т.49). - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
7.
621.385
Т56


    Томас, Г.
    Электронная микроскопия металлов. Прямое исследование металлов в просвечивающем электронном микроскопе / Г. Томас. - М. : Издательство иностранной литературы, 1963. - 351 с. - Пер. с англ. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 138854
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)