Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=537.311.322:548.4<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
621.315.592:548.4
Е 607


    Емцев, Вадим Валентинович.
    Примеси и точечные дефекты в полупроводниках [Текст] : научное издание / В. В. Емцев, Т. В. Машовец ; ред. С. М. Рывкин . - М. : Радио и связь, 1981. - 248 с : ил. - Библиогр.: с. 215-246. - 2.50 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (2 экз.)
Свободны: аунл (2)
Постоянная гиперссылка
2.
537
Б 912


    Бургуэн, Жак.
    Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты [Текст] : научное издание / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. Ю. М. Гальперин, ред., авт. предисл. В. Л. Гуревич. - М. : Мир, 1985. - 304 с. - Пер. с англ. - Библиогр.: с. 289-297. - Предм. указ.: с. 298-300. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
3.
537
Э455


   
    Электронные свойства дислокаций в полупроводниках : монография / Ю. А. Осипьян, С. И. Бредихин, В. В. Кведер и др; Ред. Ю. А. Осипьян. - М. : Эдиториал УРСС, 2000. - 319[1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. -Предм. указ.: с. 313-315. - ISBN 5-8360-0068-9 (в пер.) : 62.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)
Постоянная гиперссылка
 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 18972
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)