Д 182 Данилина, Т. И. Оборудование для создания и исследования свойств объектов наноэлектроники [Текст] : учебное пособие / Т. И. Данилина, И. А. Чистоедова ; Минобрнауки России (М.), Российская корпорация нанотехнологий, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2010. - 109 с. : рис., схемы, табл., фот. - (Технология и оборудование наноэлектроники). - Библиогр.: с. 107. - 100.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа 
Имеются экземпляры в отделах: , счз1 (1 экз.) Свободны: счз1 (1) |
В 240 Введение в нанотехнологию [Текст] : учебник для вузов / В. И. Марголин [и др.]. - СПб. : Лань, 2012. - 458, [6] с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-8114-1318-8 : 1239.92 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (3 экз.), счз1 (2 экз.) Свободны: аунл (2), счз1 (2) |
С 506 Смирнов, Серафим Всеволодович. Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем [Электронный ресурс] : учебное пособие / С. В. Смирнов ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск). - Электрон. текстовые дан. - Томск : [б. и.], 2010. - on-line, 115 с. - Б. ц. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа Перейти к внешнему ресурсу http://edu.tusur.ru/training/publications/535 |
П 765 Примерная программа учебной дисциплины "Зондовые методы создания структур наноэлектроники" [Текст] : учебные программы / Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (М.). - М. : МИЭТ, 2011. - 28 с. - (Учебно-методический комплекс для магистров. Направление "Наноэлектроника"). - Библиогр.: с. 27. - 14.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: счз1 (1 экз.) Свободны: счз1 (1) |
Н 405 Неволин, Владимир Кириллович. Учебное пособие по дисциплине "Зондовые методы создания структур наноэлектроники" [Текст] : учебное пособие / В. К. Неволин ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский университет "МИЭТ" (М.). - М. : МИЭТ, 2011. - 196 с. : ил. - (Учебно-методический комплекс для магистров. Направление "Наноэлектроника"). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-7256-0662-1 : 98.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: счз1 (1 экз.) Свободны: счз1 (1) |
С 506 Смирнов, Серафим Всеволодович. Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем [Текст] : учебное пособие / С. В. Смирнов ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Государственная корпорация "Российская корпорация нанотехнологий", Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : ТУСУР, 2010. - 115 с. : ил. - (Образовательная программа переподготовки). - Библиогр.: с. 113. - 220.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (2 экз.), счз1 (3 экз.) Свободны: аунл (2), счз1 (3) |
М 641 Миронов, Виктор Леонидович. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для вузов / В. Л. Миронов ; Российская Академия наук, Институт физики микроструктур (Нижний Новгород). - М. : Техносфера, 2004. - 143[1] с. : цв. ил. - (Мир физики и техники ; II-02). - Библиогр.: с. 116-143. - ISBN 5-94836-034-2 : 232.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (7 экз.), счз1 (2 экз.) Свободны: аунл (7), счз1 (2) |
Н 405 Неволин, Владимир Кириллович. Зондовые нанотехнологии в электронике / В. К. Неволин. - М. : Техносфера, 2005. - 147[5] с. : ил. - (Мир электроники ; VII-11). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-054-7 : 232.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (8 экз.), счз1 (1 экз.) Свободны: аунл (8), счз1 (1) |
Н 254 Нанотехнологии в электронике : Монография / Н. И. Боргардт [и др.] ; ред. Ю. А. Чаплыгин ; Московский государственный институт электронной техники. - М. : Техносфера, 2005. - 446[2] с. : ил. - Библиогр.: с. 440-443. - ISBN 5-94836-059-8 : 290.00 р. 40-летию МИЭТ посвящается Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (19 экз.), счз1 (1 экз.) Свободны: аунл (19), счз1 (1) |
П 845 Процессы микро- и нанотехнологии : учебное пособие для вузов / Т. И. Данилина [и др.] ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск). - Томск : ТУСУР, 2005. - 316 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 310-313. - ISBN 5-86889-244-5 : 300.00 р., 250.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (99 экз.), счз1 (2 экз.) Свободны: аунл (78), счз1 (2) |
Р944 Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : Учебное пособие для вузов / Сергей Александрович Рыков; Ред. В. И. Ильин, Ред. А. Я. Шик. - СПб. : Наука, 2001. - 52[4] c. : ил. - (Федеральная целевая программа "Государственная поддержка интеграции высшего образования и фундаментальной науки на 1997-2000 годы") (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 51. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 15.00 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (5 экз.) Свободны: аунл (5) |
Шифр: И643213/2010/11 Журнал 2010г. N 11 Бронников, К. А. Фундаментальные константы и переход на новые определения единиц СИ / К. А. Бронников, В. Н. Мельников Кл.слова: постоянная тонкой структуры, гравитационная постоянная, вариация констант Калинин, М. И. Современное состояние работ по переопределению единицы термодинамической температуры / М. И. Калинин Кл.слова: Больцмана постоянная, тройная точка воды, газовая термометрия Голубев, С. С. Прослеживаемость результатов измерений в нанометровом диапазоне к единицам Международной системы единиц физических величин / С. С. Голубев, С. Н. Голубев Кл.слова: топография поверхностей мер, сканирующая микроскопия, калибровка Лысенко, В. Г. Нанометрология и особенности метрологического обеспечения измерений параметров шероховатости и рельефа наноструктурированных поверхностей / В. Г. Лысенко, В. В. Соловьев, П. Н. Лускинович Кл.слова: калибровка, зондовая микроскопия, сейсмические шумы Бабаджанов, Л. С. Метрологическое обеспечение измерений геометрических параметров изделий методами неразрушающего контроля / Л. С. Бабаджанов, М. Л. Бабаджанова Кл.слова: толщина покрытий, износы стальных каналов, параметры дефектов Иванов, В. Ю. ВНИИМС - центр подготовки кадров метрологов / В. Ю. Иванов Кл.слова: базовые кафедры, эксперты-метрологи, системы добровольной сертификации Федотов, Н. Г. Распознавание изображений со сложной полутоновой текстурой / Н. Г. Федотов, Д. А. Мокшанина Кл.слова: триплетный признак, стохастическая геометрия, минимизация пространства Павлов, Ал. А. Метод контроля ошибок в устройствах хранения и передачи информации автоматизированных систем измерительной техники / Ал. А. Павлов, П. А. Павлов, А. Н. Царьков Кл.слова: методы обнаружения ошибок, ошибочные кодовые наборы, автоматизированные системы Лопарев, А. В. Моделирование датчика на основе оптоэлектронного генератора для прецизионных измерений оптико-физических параметров различных сред / А. В. Лопарев, М. Е. Белкин Кл.слова: Майкельсона интерферометр, стационарные режимы генерации, амплитуды колебаний Смирнов, В. Я. Вопросы методики сличений с национальным эталоном вторичных эталонов единиц параметров вибраций / В. Я. Смирнов Кл.слова: коэффициенты преобразования, вибропреобразователи, прослеживаемость Моисеева, Н. П. Неопределенность измерения температуры и разности температур с учетом корреляции / Н. П. Моисеева Кл.слова: уравнения интерполяции, комплекты термометров, методики калибровки Балабанов, П. В. Применение теории метода двух альф для исследования теплофизических характеристик регенеративных продуктов и химических поглотителей / П. В. Балабанов, С. В. Пономарев Кл.слова: математические модели, температурные поля, измерительные операции Петрович, П. Б. Оценка погрешности отсечения при асинхронной дискретизации переменных сигналов в присутствии интер- и субгармоник / П. Б. Петрович Кл.слова: предельные погрешности отсечения, активные мощности, математическое моделирование Шатохин, А. А. Прямой цифровой синтез сигнала как основа построения калибратора средств измерений показателей качества электроэнергии / А. А. Шатохин, И. Н. Желбаков, О. А. Коровина Кл.слова: регулирование частоты, автоподстройка частоты, калибраторы Павловский, О. П. Создание нового поколения радиоизмерительной аппаратуры миллиметрового диапазона / О. П. Павловский, А. В. Черногубов, И. Г. Мальтер Кл.слова: длина волны, номенклатура приборов, узловые базы Демченко, Н. Ф. Ядерно-физические методы контроля закрытых радионуклидных источников на основе высокоактивного радионуклида 60 СО / Н. Ф. Демченко, Р. Н. Минвалиев, И. В. Рогожина Кл.слова: эквивалентная активность, мощность экспозиционной дозы, ионизирующее излучение Алексеев, К. О. Особенности измерения расхода биологической жидкости в аппаратах для гемодиализа / К. О. Алексеев, В. С. Лугиня, И. А. Киселев Кл.слова: Доплера эффект, лазерная диагностика, скорость потока Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1) Свободны: сбо (1) |
Шифр: И517352/2010/1 Журнал 2010г. N 1 Таланин, В. И. Моделирование кинетики процесса коалесценции первичных ростовых микродефектов в бездислокационных монокристаллах кремния / В. И. Таланин, И. Е. Таланин, А. И. Мазурский. - С.4-9 Кл.слова: микродефекты, кинетика, монокристаллы кремния Гаврилов, В. А. Влияние параметров подачи реагентов на температуру кремниевых стержней в Сименс-процессе / В. А. Гаврилов, П. М. Гаврилов, П. П. Турчин. - С.10-13 Кл.слова: кремний, хлориды, инфракрасная область Бузанов, О. А. Влияние условий получения на оптические спектры пропускания и электрофизические свойства кристаллов группы лантан-галлиевого силиката / О. А. Бузанов, Н. С. Козлов, Е. В. Забелина. - С.14-19 Кл.слова: лангатат, электропроводность, кристаллы Магомедов, М. Н. О параметрах активационных процессов в алмазе, кремнии и германии / М. Н. Магомедов. - С.19-25 Кл.слова: алмазы, кремний, активационные процессы Бровин, Д. С. Аспекты выбора размеров камеры реактора для роста поликристаллического кремния / Д. С. Бровин, А. А. Ловцюс, М. Э. Рудинский. - С.26-31 Кл.слова: Сименс-процесс, моделирование, теплоперенос Синельников, Б. М. Моделирование процессов зарождения аморфных и кристаллических пленок алмазоподобных материалов / Б. М. Синельников, В. А. Тарала. - С.32-40 Кл.слова: моделирование, зародыши, пленки Малинкович, М. Д. Структура поверхности нанокомпозитов на основе кремний-углеродной матрицы, выявленная методами сканирующей зондовой микроскопии / М. Д. Малинкович, Ю. Н. Пархоменко, Д. С. Поляков. - С.41-45 Кл.слова: АСМ-изображение, СТМ-образ, зондовая микроскопия Акчурин, Р. Х. Расчетная оценка условий формирования бездефектных квантовых точек в гетероструктурах InхGa1-хAs/GaAs / Р. Х. Акчурин, Н. Т. Вагапова. - С.45-48 Кл.слова: индий, эпитаксия, рост Приходько, А. В. Исследование структуры мультикристаллического кремния для фотоэлектрических преобразователей: проблема оценки размера зерен / А. В. Приходько. - С.49-55 Кл.слова: преобразователи, время жизни, межзеренные границы Цыганков, В. Н. Термочувствительные свойства сегнетоэлектрических фаз PdA0,5Nb0,5O3 (A = Fe, In, Co, Mn) / В. Н. Цыганков, В. В. Сафонов, Е. В. Савинкина. - С.55-57 Кл.слова: температура, электросопротивление, датчики Бублик, В. Т. Влияние условий выращивания слитков твердых растворов Bi2Te2,7Se0,3 на анизотропию физических свойств / В. Т. Бублик, А. И. Воронин, Е. А. Выговская. - С.58-62 Кл.слова: бриджмена метод, твердые растворы, материалы Ильин, А. И. Получение монокристаллических ориентированных субмикронных структур из пленок Bi и Bi-Cb на подложках SiO2/Si / А. И. Ильин, С. В. Дубонос, А. В. Черных. - С.63-67 Кл.слова: висмут, пленки, микроструктуры Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1) Свободны: сбо (1) |