А 640 Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : Монография : Пер. с англ. / М. П. Сих [и др.] ; ред. : Д. Бриггс, М. П. Сих ; ред. пер. : В. И. Раховский, И. С. Рез. - М. : Мир, 1987. - 598[2] с. : граф., рис., табл., фото. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 589-592. - 6.40 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа 
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (1 экз.), счз1 Свободны: аунл (1) |
Ц74 Цитович, Александр Павлович. Ядерная электроника : Учебное пособие для вузов / Александр Павлович Цитович. - М. : Энергоатомиздат, 1984. - 408 с. : ил. - Библиогр.: с. 396-400. -Предм. указ.: с. 400-402. - (в пер.) : 7.68 р. Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (1 экз.) Свободны: аунл (1) |