621.382
П901

    Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем : материалы 4 Всес. науч. -техн. семинара, Рязань, 16-18 июня 1987г.: В 2 ч / Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР, Рязанский радиотехнический институт. - Рязань : РРТИ, 1988 - .
   Ч. 2 / Ред. П. Т. Орешкин. - Рязань : РРТИ, 1987. - 159 с. : ил. - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (1 экз.)
Свободны: аунл (1)

621.3
С506

    Смирнов, Николай Исаакович.
    Оценка безотказности интегральных микросхем / Николай Исаакович Смирнов, Виктор Борисович Широков. - М. : Радио и связь, 1983. - 102 с. - (Библиотека инженера по надежности). - (в пер.) : Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: сбо (1 экз.), аунл
Свободны: СБО (1)

621.382
Е91

    Ефимов, Иван Ефимович.
    Надежность интегральных полупроводниковых схем / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов. - М. : Издательство стандартов, 1969. - 74 с. - (Надежность. Качество). - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (5 экз.)
Свободны: аунл (5)

621.382
В 751

    Воробьев, Владимир Леонидович.
    Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств / В. Л. Воробьев. - М. : Наука, 1989. - 159 с. : ил. - Библиогр.: с. 155-157. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (3 экз.)
Свободны: аунл (3)

621.382
Ч-497

    Чернышев, Александр Алексеевич.
    Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем : / А. А. Чернышев. - М. : Мир, 1988. - 254, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 249-252. - ISBN 5-256-00042-Х : 01.20 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (11 экз.), счз1
Свободны: аунл (11)