Авторизация
 

Базы данных


Основная база библиотеки - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйдля рабочих программ
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ<.>)
Общее количество найденных документов : 20
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20  
1.
Шифр: И517352/2014/3
   Журнал

Материалы электронной техники : научно-технический журнал. Известия ВУЗов/ Министерство образования Российской Федерации (М.). - М. : МИСиС, 1998 - . - ISSN 1609-3577. - Выходит ежеквартально
2014г. N 3 . - 1931.66, р.
Содержание:
Шульга, Юрий Макарович. Углеродные наноструктуры, восстановленные из оксида графита, как материалы для электродов суперконденсаторов / Ю. М. Шульга, Н. Ю. Шульга, Ю. Н. Пархоменко. - С.157-167
Кл.слова: графеновые материалы, суперконденсаторы, оксид графена
Козлова, Нина Семеновна. Исследование монокристаллов CaMoO4 / Н. С. Козлова, О. А. Бузанов, М. Б. Быкова. - С.168-173
Кл.слова: сцинтилляционные кристаллы, окислительный отжиг, спектрофотометрия
Кугаенко, Ольга Михайловна. Анизотропия микротвердости кристаллов семейства лангасита / О. М. Кугаенко, Е. С. Торшина, В. С. Петраков. - С.174-182
Кл.слова: полярная диаграмма, Кнуппа метод, коэффициент анизотропии
Канева, Ирина Ивановна. Получение гексаферрита бария с повышенными изотропными свойствами / И. И. Канева, В. Г. Костишин, В. Г. Андреев. - С.183-188
Кл.слова: изотропные магнитные свойства, анизотропные магнитные свойства, гексаферрит стронция
Абгарян, Каринэ Карленовна. Объектно-реляционная архитектура информационной поддержки многомасштабной схемы расчета многослойной полупроводниковой наноструктуры / К. К. Абгарян, П. А. Сеченых, И. А. Супрядкина. - С.189-193
Кл.слова: база данных, многомасштабная схема расчета, полупроводниковая наноструктура
Комков, Олег Сергеевич. Определение толщины автоэпитаксиальных слоев арсенида индия методом инфракрасной фурье-спектроскопии / О. С. Комков, Д. Д. Фирсов, Е. А. Ковалишина. - С.194-198
Кл.слова: физика полупроводников, показатель преломления, оптические методы исследования
Ермакова, Евгения Николаевна. Синтез и характеризация триметил(фенил)силана — предшественника для газофазных процессов осаждения пленок SiCx:H / Е. Н. Ермакова, С. В. Сысоев, Л. Д. Никулина. - С.199-205
Кл.слова: диэлектрические пленки, гидрогенизированный карбонитрид кремния, PECVD
Коваленко, Александр Федорович. Метод определения неразрушающих режимов импульсного лазерного отжига диэлектрических и полупроводниковых пластин / А. Ф. Коваленко, А. А. Воробьев. - С.206-210
Кл.слова: лазерная обработка, квазистатическая задача термоупругости, пластина
Шевченко, Светлана Антоновна. Взаимодействие многозарядных примесей с дислокациями в монокристаллах германия / С. А. Шевченко, А. Н. Терещенко, А. А. Мазилкин. - С.211-216
Кл.слова: метод DLTS, фотолюминесценция, глубокие уровни
Орлова, Марина Николаевна. Изучение деградации фотоэлектрических преобразователей на основе наногетероструктур AIIIBV / М. Н. Орлова, С. Ю. Юрчук, С. И. Диденко. - С.217-223
Кл.слова: солнечные элементы, нейтронное излучение, электронное излучение
Бердиев, Асадкул Эгамович. Влияние иттрия на анодное поведение сплава АК1М2 / А. Э. Бердиев, И. Н. Ганиев, Х. Х. Ниезов. - С.224-227
Кл.слова: потенциодинамический метод, анодное поведение, потенциал коррозии
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : сбо (1)
Свободны: сбо (1)

Постоянная гиперссылка
2.
620.3
В 240


    Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : учебное пособие для вузов: в 2 т. / ред. Ю. Н. Коркишко. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - 2011. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-0.
   Т. 2 : Технологические аспекты / М. В. Акуленок, В. М. Андреев, Д. Г. Громов. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. - 252 с. : ил. - ). - Библиогр.: с. 245-248. - ISBN 978-5-9963-0336-6 : 278.30 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: счз1 (3 экз.), аунл (42 экз.)
Свободны: счз1 (3), аунл (42)
Постоянная гиперссылка
3.
621.382
Т 384


    Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем [Текст] : учебное пособие для вузов: в 2 ч. / ред. Ю. А. Чаплыгин. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Электроника). - ISBN 978-5-94774-583-2.
   Ч. 1 : Технологические процессы изготовления кремниевых интегральных схем и их моделирование / М. А. Королев, Т. Ю. Крупкина, М. А. Ревелева. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. - 397 с. : ил. - ). - Библиогр.: с. 397. - ISBN 978-5-94774-336-4 : 242.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: счз1 (2 экз.), аунл (7 экз.)
Свободны: счз1 (2), аунл (5)
Постоянная гиперссылка
4.
621.38
Ч-602


    Чикин, Евгений Владимирович.
    Физико-химические основы технологии электронных средств [Текст] : методические указания по выполнению тематических рефератов / Е. В. Чикин ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томский межвузовский центр дистанционного образования, Кафедра радиоэлектронных технологий и экологического мониторинга. - Томск : [б. и.], 2006. - 23 с. - Библиогр.: с. 20. - 36.68 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (7 экз.), счз1 (1 экз.)
Свободны: аунл (7), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
5.
539.2
К 913


    Кунин, Вадим Яковлевич.
    Электропроводность тонких диэлектрических пленок : Учебное пособие / В. Я. Кунин, Н. А. Штурбина ; Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР, Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина. - Л. : ЛПИ, 1981. - 54[3] с. : ил. - Библиогр.: с. 56. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (4 экз.)
Свободны: аунл (4)
Постоянная гиперссылка
6.
621.315
С 221


    Сахаров, Юрий Владимирович.
    Влияние примеси углерода на формовку и электрофизические параметры МДМ-структур : Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук. 01.04.04 / Ю. В. Сахаров ; науч. рук. : П. Е. Троян ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск, 2006. - 150[5] с. : ил. - Библиогр.: с. 136-150

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: сбо (1 экз.)
Свободны: сбо (1)
Постоянная гиперссылка
7.
А
С 221


    Сахаров, Юрий Владимирович.
    Влияние примеси углерода на формовку и электрофизические параметры МДМ-структур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук. 01.04.04 / Ю. В. Сахаров ; науч. рук. : П. Е. Троян ; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск, 2006. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: сбо (1 экз.), счз1 (1 экз.)
Свободны: сбо (1), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
8.
621.382
Д 182


    Данилина, Тамара Ивановна.
    Технологические процессы микроэлектроники. Технология ЭВС-1 : учебное пособие / Т. И. Данилина, К. И. Смирнова ; Федеральное агентство по образованию, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Кафедра физической электроники. - Томск : ТМЦДО, 2005. - 223 с. : ил. - Библиогр.: с. 220. - 66.90 р., 46.80 р., 111.50 р., 180.00 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , счз1 (2 экз.), аунл (7 экз.)
Свободны: счз1 (2), аунл (7)
Постоянная гиперссылка
9.
539.2
Ч-754


    Чопра, К. Л.
    Электрические явления в тонких пленках (Избранные главы из книги Thin film phenomena) : Монография : Пер. с англ. / К. Л. Чопра ; пер. А. Ф. Волков, Е. И. Гиваргизов, П. И. Перов, В. И. Покалякин, ред. пер. Т. Д. Шермергор. - М. : Мир, 1972. - 434[2] с. : ил. - Библиогр.: с. 380-410, 421-424. - Предм. указ.: с. 432-434. - Б. ц.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: аунл (6 экз.), счз1 (1 экз.)
Свободны: аунл (5), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
10.
621.315
К 666


    Корзо, Виктор Федорович.
    Диэлектрические пленки в микроэлектронике : научное издание / В. Ф. Корзо, В. Н. Черняев. - М. : Энергия, 1977. - 366[2] с. : ил., табл. - (Электронное материаловедение). - Библиогр.: с. 344-365. - (в пер.) : 01.35 р.

    Коды, Ключ.слова, Доп.точки доступа
Имеются экземпляры в отделах: , аунл (5 экз.), счз1 (1 экз.)
Свободны: аунл (5), счз1 (1)
Постоянная гиперссылка
 1-10    11-20  
 
Статистика
за 18.06.2024
Число запросов 33858
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)